电子说
在电子设备不断追求小型化和高性能的今天,MOSFET作为关键的电子元件,其性能和尺寸对于整个系统的设计至关重要。今天,我们就来深入了解一下德州仪器(TI)推出的CSD13381F4 12-V N-Channel FemtoFET™ MOSFET。
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由于其低导通电阻和快速开关特性,CSD13381F4非常适合用于负载开关应用。在需要频繁开关负载的电路中,它能够快速、高效地控制负载的通断,减少功率损耗。
其良好的电气性能和小尺寸封装,使其成为通用开关应用的理想选择。无论是在信号切换还是电源管理等方面,都能发挥出色的性能。
对于单电池供电的设备,如智能手机、平板电脑等,CSD13381F4的低功耗和小尺寸特性可以有效延长电池续航时间,并节省电路板空间。
在手持和移动设备中,对元件的尺寸和性能要求极高。CSD13381F4的超小封装和高性能能够满足这些设备的设计需求,为设备的小型化和高性能化提供支持。
该MOSFET的漏源电压((V{DS}))为12 V,在不同的栅源电压下,其导通电阻有所不同。例如,当(V{GS}=1.8 V)时,导通电阻为310 mΩ;当(V{GS}=2.5 V)时,导通电阻为170 mΩ;当(V{GS}=4.5 V)时,导通电阻为140 mΩ。此外,其栅极总电荷((Q{g}))在4.5 V时为1060 pC,栅漏电荷((Q{gd}))为140 pC,阈值电压((V_{GS(th)}))为0.85 V。
| 参数 | 测试条件 | 最小值 | 典型值 | 最大值 | 单位 |
|---|---|---|---|---|---|
| (BV_{DSS})(漏源击穿电压) | (V{GS}= 0 V),(I{DS}= 250 μA) | 12 | - | - | V |
| (I_{DSS})(漏源泄漏电流) | (V{GS}= 0 V),(V{DS}= 9.6 V) | - | - | 100 | nA |
| (I_{GSS})(栅源泄漏电流) | (V{DS}= 0 V),(V{GS}= 8 V) | - | - | 50 | nA |
| (V_{GS(th)})(栅源阈值电压) | (V{DS}= V{GS}),(I_{DS}= 250 μA) | 0.65 | 0.85 | 1.10 | V |
| (R_{DS(on)})(漏源导通电阻) | (V{GS}= 1.8 V),(I{DS}= 0.5 A) | - | 310 | 400 | mΩ |
| (R_{DS(on)})(漏源导通电阻) | (V{GS}= 2.5 V),(I{DS}= 0.5 A) | - | 170 | 225 | mΩ |
| (R_{DS(on)})(漏源导通电阻) | (V{GS}= 4.5 V),(I{DS}= 0.5 A) | - | 140 | 180 | mΩ |
| (g_{fs})(跨导) | (V{DS}= 6 V),(I{DS}= 0.5 A) | - | 3.2 | - | S |
| (C_{iss})(输入电容) | (V{GS}= 0 V),(V{DS}= 6 V),(ƒ = 1 MHz) | - | 155 | 200 | pF |
| (C_{oss})(输出电容) | - | - | 47 | 62 | pF |
| (C_{rss})(反向传输电容) | - | - | 2.5 | 3.3 | pF |
| (R_{G})(串联栅极电阻) | - | - | 23 | - | Ω |
| (Q_{g})(栅极总电荷) | (V{DS}= 6 V),(I{DS}= 0.5 A) | - | 1060 | 1400 | pC |
| (Q_{gd})(栅漏电荷) | - | 140 | - | - | pC |
| (Q_{gs})(栅源电荷) | - | 230 | - | - | pC |
| (Q_{g(th)})(阈值电压下的栅极电荷) | - | 155 | - | - | pC |
| (Q_{oss})(输出电荷) | (V{DS}= 6 V),(V{GS}= 0 V) | - | 1120 | - | pC |
| (t_{d(on)})(导通延迟时间) | (V{DS}= 6 V),(V{GS}= 4.5 V),(I{DS}= 0.5 A),(R{G}= 2 Ω) | - | 3.7 | - | ns |
| (t_{r})(上升时间) | - | 1.5 | - | - | ns |
| (t_{d(off)})(关断延迟时间) | - | 11.0 | - | - | ns |
| (t_{f})(下降时间) | - | 3.8 | - | - | ns |
| (V_{SD})(二极管正向电压) | (I{SD}= 0.5 A),(V{GS}= 0 V) | - | 0.73 | 0.9 | V |
| (Q_{rr})(反向恢复电荷) | (V{DS}= 6 V),(I{F}= 0.5 A),(di/dt = 300 A/μs) | - | 1550 | - | pC |
| (t_{rr})(反向恢复时间) | - | 6 | - | - | ns |
在不同的安装条件下,该MOSFET的结到环境的热阻有所不同。当器件安装在具有1英寸²(6.45 (cm^{2}))、2 oz.(0.071 mm厚)铜的FR4材料上时,典型的结到环境热阻((R_{theta JA}))为90 °C/W;当安装在最小铜安装面积的FR4材料上时,结到环境热阻为250 °C/W。
瞬态热阻抗与脉冲持续时间和占空比有关。在不同的占空比下,随着脉冲持续时间的变化,热阻抗也会发生变化。这对于评估MOSFET在脉冲工作条件下的热性能非常重要。
在不同的栅源电压下,漏源电流与漏源电压的关系呈现出饱和特性。当栅源电压固定时,随着漏源电压的增加,漏源电流逐渐饱和。
漏源电流与栅源电压之间存在一定的关系。在不同的温度下,传输特性曲线会有所不同。例如,在(TC = 125°C)、(TC = 25°C)和(TC = -55°C)时,传输特性曲线会发生偏移。
栅极电荷与栅源电压之间的关系曲线可以帮助我们了解MOSFET的开关特性。在不同的漏源电压和漏源电流条件下,栅极电荷的变化情况不同。
输入电容((C{iss}))、输出电容((C{oss}))和反向传输电容((C_{rss}))与漏源电压有关。随着漏源电压的变化,这些电容值也会发生变化。
阈值电压会随着温度的变化而变化。在不同的温度下,阈值电压的数值不同。这对于设计电路时考虑温度对MOSFET性能的影响非常重要。
导通电阻与栅源电压和温度密切相关。随着栅源电压的增加,导通电阻会减小;随着温度的升高,导通电阻会增大。
源漏电流与源漏电压之间的关系曲线可以反映二极管的正向电压特性。在不同的温度下,典型二极管正向电压曲线会有所不同。
最大安全工作区表示MOSFET在不同的漏源电压和漏源电流条件下能够安全工作的区域。在设计电路时,需要确保MOSFET的工作点在最大安全工作区内,以避免器件损坏。
单脉冲未钳位电感开关特性可以帮助我们了解MOSFET在雪崩状态下的性能。在不同的温度下,峰值雪崩电流与雪崩时间的关系曲线不同。
最大漏极电流会随着温度的升高而减小。在设计电路时,需要考虑温度对最大漏极电流的影响,以确保MOSFET在不同温度下都能正常工作。
该MOSFET采用0402封装,其具体的机械尺寸包括长度、宽度、高度等。在设计电路板时,需要根据这些尺寸来进行布局。
文档中给出了推荐的最小PCB布局尺寸,包括焊盘尺寸、间距等。合理的PCB布局可以提高MOSFET的性能和可靠性。
推荐的模板图案用于印刷电路板的焊接工艺。正确的模板图案可以确保焊膏的分布均匀,提高焊接质量。
CSD13381F4的载带尺寸包括长度、宽度、高度等参数。了解载带尺寸对于自动化生产和器件的安装非常重要。
| 器件 | 数量 | 包装介质 | 封装 | 发货方式 |
|---|---|---|---|---|
| CSD13381F4 | 3000 | 7英寸卷盘 | Femto (0402) 1.0-mm × 0.6-mm SMD无引脚 | 卷带包装 |
| CSD13381F4T | 250 | 卷盘 | Femto (0402) 1.0-mm × 0.6-mm SMD无引脚 | 卷带包装 |
CSD13381F4 12-V N-Channel FemtoFET™ MOSFET以其低导通电阻、低栅极电荷、低阈值电压、超小封装尺寸和超薄外形等优点,成为了手持和移动设备等应用的理想选择。在设计电路时,我们需要根据其电气特性、热特性和机械特性等参数,合理选择工作条件和PCB布局,以充分发挥其性能优势。同时,在使用过程中,要注意静电防护,避免ESD对器件造成损害。大家在实际应用中是否遇到过类似MOSFET的使用问题呢?欢迎在评论区分享你的经验和见解。
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