SGMNQ12340:40V 单 N 沟道 TDFN 封装 MOSFET 的技术剖析

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SGMNQ12340:40V 单 N 沟道 TDFN 封装 MOSFET 的技术剖析

在电子设计领域,MOSFET 作为关键的功率器件,其性能直接影响着整个电路的效率和稳定性。今天,我们就来深入剖析 SGMICRO 推出的 SGMNQ12340 这款 40V 单 N 沟道 TDFN 封装 MOSFET。

文件下载:SGMNQ12340.pdf

一、产品特性

1. 低导通电阻

SGMNQ12340 具有低导通电阻的特性,这意味着在导通状态下,器件的功率损耗较小,能够有效提高电路的效率。例如,当 (V{GS}=10V) 时,典型导通电阻 (R{DS(ON)}) 为 13mΩ,最大为 18mΩ,这一特性在功率转换电路中尤为重要。

2. 低总栅极电荷和电容损耗

低总栅极电荷和电容损耗使得 MOSFET 的开关速度更快,减少了开关过程中的能量损耗。这对于高频应用场景,如 DC/DC 转换器,能够显著提高效率。

3. 小尺寸封装

采用 TDFN - 2×2 - 6BL 封装,尺寸小巧,适合紧凑型设计。这对于空间有限的电子设备,如便携式电子设备,提供了良好的解决方案。

4. 环保特性

该器件符合 RoHS 标准且无卤,满足环保要求,适应了当前电子行业对绿色产品的需求。

二、绝对最大额定值

参数 符号 单位
漏源电压 (V_{DS}) 40 V
栅源电压 (V_{GS}) ±20 V
漏极电流((T_C = +25℃)) (I_D) 25 A
漏极电流((T_C = +100℃)) (I_D) 18 A
脉冲漏极电流 (I_{DM}) 60 A
总功耗((T_C = +25℃)) (P_D) 24 W
总功耗((T_C = +100℃)) (P_D) 9 W
雪崩电流 (I_{AS}) 18.6 A
雪崩能量 (E_{AS}) 17.3 mJ
结温 (T_J) +150
存储温度范围 (T_{STG}) -55 至 +150
引脚温度(焊接,10s) +260

需要注意的是,超过绝对最大额定值的应力可能会对器件造成永久性损坏,长时间暴露在绝对最大额定值条件下可能会影响器件的可靠性。

三、电气特性

1. 静态关断特性

  • 漏源击穿电压 (V{BR(DSS)}):当 (V{GS}=0V),(I_D = 250µA) 时,最小值为 40V。
  • 零栅压漏极电流 (I{DSS}):当 (V{GS}=0V),(V_{DS}=32V) 时,最大值为 1µA。
  • 栅源泄漏电流 (I{GSS}):当 (V{GS}= ±20V),(V_{DS}=0V) 时,最大值为 ±100nA。

    2. 静态导通特性

  • 栅源阈值电压 (V{GS(TH)}):当 (V{GS}=V_{DS}),(I_D = 250µA) 时,典型值在 1.2 - 2.2V 之间。
  • 漏源导通电阻 (R{DS(ON)}):当 (V{GS}=10V),(ID = 8A) 时,典型值为 13mΩ,最大值为 18mΩ;当 (V{GS}=4.5V),(I_D = 4A) 时,典型值为 20mΩ,最大值为 28mΩ。
  • 正向跨导 (g{fs}):当 (V{DS}=5V),(I_D = 8A) 时,为 9S。
  • 栅极电阻 (RG):当 (V{GS}=0V),(V_{DS}=0V),(f = 1MHz) 时,为 1Ω。

    3. 二极管特性

  • 二极管正向电压 (V{F(SD)}):当 (V{GS}=0V),(I_S = 1A) 时,典型值为 0.7V,最大值为 1V。
  • 反向恢复时间 (t{RR}):当 (V{GS}=0V),(I_S = 8A),(di/dt = 100A/µs) 时,为 14ns。
  • 反向恢复电荷 (Q_{RR}):为 3nC。

    4. 动态特性

  • 输入电容 (C{ISS}):当 (V{GS}=0V),(V_{DS}=20V),(f = 1MHz) 时,为 371pF。
  • 输出电容 (C_{OSS}):为 150pF。
  • 反向传输电容 (C_{RSS}):为 12pF。
  • 总栅极电荷 (QG):当 (V{GS}=10V),(V_{DS}=20V),(ID = 8A) 时,为 8.5nC;当 (V{GS}=4.5V) 时,为 4.5nC。
  • 栅源电荷 (Q{GS}):当 (V{GS}=4.5V),(V_{DS}=20V),(I_D = 8A) 时,为 1.4nC。
  • 栅漏电荷 (Q_{GD}):为 2.3nC。

    5. 开关特性

  • 开启延迟时间 (t{D(ON)}):当 (V{GS}=10V),(V_{DS}=20V),(I_D = 8A),(R_G = 3Ω) 时,为 0.5ns。
  • 上升时间 (t_R):为 16ns。
  • 关断延迟时间 (t_{D(OFF)}):为 7ns。
  • 下降时间 (t_F):为 2.4ns。

四、典型性能特性

1. 输出特性

从输出特性曲线可以看出,不同 (V{GS}) 下,漏源导通电阻随漏极电流的变化情况。例如,当 (V{GS}=10V) 时,导通电阻相对较低且较为稳定。

2. 栅极电荷特性和电容特性

展示了总栅极电荷和电容随栅源电压、漏源电压的变化关系,这对于评估 MOSFET 的开关性能至关重要。

3. 阈值电压和导通电阻与结温的关系

随着结温的变化,阈值电压和导通电阻会发生相应的变化。在设计电路时,需要考虑这些因素对器件性能的影响。

4. 安全工作区

安全工作区曲线给出了 MOSFET 在不同脉冲宽度和温度下能够安全工作的范围,为电路设计提供了重要的参考。

五、应用领域

SGMNQ12340 适用于多种应用场景,如 VBUS OVP 开关、AMOLED 控制器应用、电池充放电开关以及 DC/DC 转换器等。在这些应用中,其低导通电阻、快速开关速度等特性能够充分发挥作用,提高电路的性能。

六、封装与订购信息

1. 封装

采用 TDFN - 2×2 - 6BL 封装,详细的封装尺寸和推荐焊盘尺寸在文档中有明确说明。

2. 订购信息

型号为 SGMNQ12340,温度范围为 -55℃ 至 +150℃,包装形式为 Tape and Reel,每盘 3000 个。

七、总结

SGMNQ12340 作为一款性能优异的 40V 单 N 沟道 TDFN 封装 MOSFET,在低导通电阻、快速开关速度、小尺寸封装等方面具有显著优势。在实际设计中,电子工程师可以根据具体的应用需求,充分利用其特性,设计出高效、稳定的电路。同时,在使用过程中,要严格遵守绝对最大额定值的要求,确保器件的可靠性。你在使用这款 MOSFET 时遇到过哪些问题呢?欢迎在评论区分享你的经验。

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