电子说
在电子工程师的日常工作中,MOSFET是一种极为常见且关键的元器件。今天我们要详细解析的FCP165N60E,是N - 通道SuperFET® II易驱动MOSFET,它有着诸多出色的特性,适用于多个领域。随着FAIRCHILD并入ON Semiconductor,这款产品也迎来了一些变化,下面我们就来深入了解它。
文件下载:FCP165N60E-D.pdf
FAIRCHILD现已成为ON Semiconductor的一部分。由于ON Semiconductor产品管理系统无法处理带有下划线(_)的零件命名,Fairchild部分可订购的零件编号中的下划线将更改为破折号( - )。大家可以访问ON Semiconductor网站(www.onsemi.com)来验证更新后的设备编号。若对系统集成有任何疑问,可发邮件至Fairchild_questions@onsemi.com。
FCP165N60E是一款600V、23A、165mΩ的N - 通道SuperFET® II易驱动MOSFET。在(T{J}=150^{circ} C)时,其耐压可达650V,典型导通电阻(R{DS( on )}=132 m Omega)。
在电信和服务器电源中,对电源的效率和稳定性要求较高。FCP165N60E的低导通电阻和低开关损耗特性,能够有效提高电源的转换效率,减少发热,保证系统的稳定运行。
工业电源通常需要应对复杂的工作环境和较大的负载变化。FCP165N60E的高耐压和良好的雪崩特性,使其能够在工业电源中可靠工作,适应各种复杂工况。
| 参数 | 数值 | 单位 | |
|---|---|---|---|
| 漏源电压(V_{DSS}) | 600 | V | |
| 栅源电压(V_{GSS})(DC) | ±20 | V | |
| 栅源电压(V_{GSS})(AC,f > 1 Hz) | ±30 | V | |
| 连续漏极电流((T_{C}=25^{circ} C)) | (I_{D}) | 23 | A |
| 连续漏极电流((T_{C}=100^{circ} C)) | (I_{D}) | 14 | A |
| 脉冲漏极电流(I_{DM}) | 69 | A | |
| 单脉冲雪崩能量(E_{AS}) | 525 | mJ | |
| 雪崩电流(I_{AR}) | 5 | A | |
| 重复雪崩能量(E_{AR}) | 2.27 | mJ | |
| MOSFET dv/dt | 100 | V/ns | |
| 峰值二极管恢复dv/dt | 20 | V/ns | |
| 功率耗散((T_{C}=25^{circ} C)) | (P_{D}) | 227 | W |
| 25°C以上降额系数 | 1.82 | W/°C | |
| 工作和存储温度范围(T{J}, T{STG}) | - 55 to +150 | °C | |
| 最大焊接引线温度(距外壳1/8”,5秒)(T_{L}) | 300 | °C |
| 参数 | 数值 | 单位 |
|---|---|---|
| 结到外壳的热阻(R_{θJC})(最大) | 0.55 | °C/W |
| 结到环境的热阻(R_{θJA})(最大) | 40 | °C/W |
文档中给出了多个典型性能特性图,如导通区域特性、传输特性、导通电阻随漏极电流和栅极电压的变化、电容特性、栅极电荷特性、击穿电压随温度的变化、导通电阻随温度的变化、最大安全工作区、最大漏极电流随外壳温度的变化等。这些特性图有助于工程师在设计电路时,更准确地了解FCP165N60E在不同条件下的性能表现。
文档还给出了栅极电荷测试电路及波形、电阻性开关测试电路及波形、非钳位电感开关测试电路及波形、峰值二极管恢复dv/dt测试电路及波形等。这些测试电路和波形可以帮助工程师更好地理解产品的工作原理和性能,为实际应用提供参考。
FCP165N60E作为一款N - 通道SuperFET® II易驱动MOSFET,凭借其出色的特性和广泛的应用领域,在电子工程师的设计中具有很大的价值。在使用过程中,工程师需要根据具体的应用需求,结合产品的各项参数和特性,合理设计电路,以充分发挥其性能优势。同时,要注意产品的更新信息,确保使用的是最新的零件编号。大家在实际应用中,是否遇到过类似MOSFET的使用问题呢?欢迎在评论区分享交流。
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