电子说
在电子工程师的日常设计工作中,MOSFET是不可或缺的关键元件。今天我们就来深入探讨Onsemi推出的两款N沟道SUPERFET II系列MOSFET——FCP190N60E和FCPF190N60E。
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SUPERFET II MOSFET是Onsemi全新的高压超结(SJ)MOSFET系列,它采用了电荷平衡技术,具备出色的低导通电阻和低栅极电荷性能。该技术旨在最大程度地降低传导损耗,提供卓越的开关性能、dv/dt速率和更高的雪崩能量。
FCP190N60E和FCPF190N60E属于SUPERFET II MOSFET的易驱动系列,与普通的SUPERFET II MOSFET系列相比,其上升和下降时间稍慢。型号后缀的“E”表明该系列有助于解决电磁干扰(EMI)问题,使设计更容易实现。如果在应用中需要更快的开关速度且开关损耗必须降至最低,建议考虑普通的SUPERFET II MOSFET系列。
| 设备型号 | 封装 | 包装数量 |
|---|---|---|
| FCP190N60E | TO - 220 | 800个/管 |
| FCPF190N60E | TO - 220F | 1000个/管 |
从导通区域特性曲线(图1)可以看出,不同栅源电压(VGS)下,漏极电流(ID)随漏源电压(VDS)的变化情况。工程师可以根据实际需求选择合适的VGS和VDS,以获得最佳的导通性能。
传输特性曲线(图2)展示了ID与VGS之间的关系。通过该曲线,我们可以确定MOSFET的阈值电压和跨导等参数,为电路设计提供重要依据。
导通电阻(RDS(on))随漏极电流(ID)和栅极电压(VGS)的变化曲线(图3)显示,在不同的工作条件下,RDS(on)会发生变化。了解这一特性有助于优化电路设计,降低功率损耗。
体二极管正向电压(VSD)随源极电流和温度的变化曲线(图4)反映了体二极管在不同工作条件下的性能。在设计中需要考虑体二极管的正向电压降,以确保电路的效率和稳定性。
电容特性曲线(图5)展示了输入电容(Ciss)、输出电容(Coss)和反向传输电容(Crss)随VDS的变化情况。这些电容参数对MOSFET的开关速度和开关损耗有重要影响,工程师需要根据实际应用进行合理选择。
栅极电荷特性曲线(图6)显示了总栅极电荷(Qg(tot))与VGS和VDS的关系。了解栅极电荷特性有助于优化栅极驱动电路,提高开关效率。
击穿电压(BVDSS)和导通电阻(RDS(on))随结温(TJ)的变化曲线(图7和图8)表明,这两个参数会随着温度的变化而发生改变。在设计中需要考虑温度对MOSFET性能的影响,确保电路在不同温度环境下的可靠性。
最大安全工作区曲线(图9和图10)规定了MOSFET在不同脉冲宽度和温度下的安全工作范围。工程师在设计电路时必须确保MOSFET的工作点在安全工作区内,以避免器件损坏。
最大漏极电流(ID)与外壳温度(TC)的关系曲线(图11)显示了在不同外壳温度下,MOSFET能够承受的最大漏极电流。这对于散热设计和功率管理非常重要。
Eoss与漏源电压(VDS)的关系曲线(图12)反映了MOSFET在开关过程中的能量损耗情况。降低Eoss可以提高电路的效率,减少能量浪费。
瞬态热响应曲线(图13和图14)展示了MOSFET在不同脉冲持续时间下的热响应特性。了解这一特性有助于设计合理的散热方案,确保MOSFET在瞬态工作条件下的可靠性。
文档中还给出了栅极电荷测试电路与波形(图15)、电阻性开关测试电路与波形(图16)、非钳位电感开关测试电路与波形(图17)以及峰值二极管恢复dv/dt测试电路与波形(图18)。这些测试电路和波形为工程师验证MOSFET的性能提供了重要的参考依据。
文档详细给出了TO - 220 Fullpack, 3 - Lead / TO - 220F - 3SG(CASE 221AT)和TO - 220 - 3LD(CASE 340AT)两种封装的尺寸信息,包括各个尺寸的最小值、典型值和最大值,以及公差要求。工程师在进行电路板设计时,需要根据这些尺寸信息合理布局MOSFET,确保其与其他元件的兼容性。
综上所述,Onsemi的FCP190N60E和FCPF190N60E MOSFET具有出色的电气性能和热性能,适用于多种应用领域。电子工程师在设计电路时,可以根据具体需求选择合适的型号,并参考文档中的各项特性和测试数据,以确保电路的可靠性和性能优化。你在使用这些MOSFET的过程中遇到过哪些问题呢?欢迎在评论区分享你的经验和见解。
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