电子说
在电子工程师的设计生涯中,MOSFET(金属 - 氧化物 - 半导体场效应晶体管)是一种至关重要的电子元件。今天,我们将深入剖析Fairchild Semiconductor(现属于ON Semiconductor)的FDB38N30U N - Channel UniFET™ Ultra FRFET™ MOSFET,探讨其特性、应用以及相关技术参数。
文件下载:FDB38N30U-D.pdf
Fairchild Semiconductor已成为ON Semiconductor的一部分。由于系统要求,部分Fairchild可订购的零件编号需要更改。具体而言,由于ON Semiconductor产品管理系统无法处理带有下划线()的零件命名,Fairchild零件编号中的下划线()将更改为破折号( - )。大家可通过ON Semiconductor网站核实更新后的设备编号。
FDB38N30U是一款N沟道MOSFET,具备300V的耐压、38A的电流处理能力以及最大120mΩ的导通电阻(在 (V{GS}=10V),(I{D}=19A) 条件下)。
在UPS系统中,FDB38N30U的低导通电阻和良好的开关性能有助于提高电源的效率和稳定性,确保在市电中断时能够及时为负载提供稳定的电力。
在电视电源模块中,该MOSFET能够有效降低功耗,提高电源转换效率,同时其良好的雪崩能量强度可以应对电源中的浪涌冲击,保障电视的稳定运行。
在AC - DC电源转换过程中,FDB38N30U的高性能特性可以优化电源的设计,提高电源的功率密度和可靠性。
| 符号 | 参数 | FDB38N30U | 单位 |
|---|---|---|---|
| (V_{DSS}) | 漏源电压 | 300 | V |
| (V_{GSS}) | 栅源电压 | ±30 | V |
| (I_{D}) | 漏极电流(连续,(T_{C}=25^{circ}C)) | 38 | A |
| (I_{D}) | 漏极电流(连续,(T_{C}=100^{circ}C)) | 22.8 | A |
| (I_{DM}) | 漏极脉冲电流 | 152 | A |
| (E_{AS}) | 单脉冲雪崩能量 | 722 | mJ |
| (I_{AR}) | 雪崩电流 | 38 | A |
| (E_{AR}) | 重复雪崩能量 | 31.3 | mJ |
| (dv/dt) | 峰值二极管恢复 (dv/dt) | 20 | V/ns |
| (P_{D}) | 功率耗散((T_{C}=25^{circ}C)) | 313 | W |
| (P_{D}) | 25°C以上降额 | 2.5 | W/°C |
| (T{J}, T{STG}) | 工作和存储温度范围 | - 55 至 + 150 | °C |
| (T_{L}) | 焊接时最大引脚温度(距外壳1/8”,5秒) | 300 | °C |
| 符号 | 参数 | FDB38N30U | 单位 |
|---|---|---|---|
| (R_{θJC}) | 结到外壳的热阻(最大) | 0.4 | °C/W |
| (R_{θJA}) | 结到环境的热阻(最大) | 62.5 | °C/W |
文档中提供了一系列典型性能特性曲线,如导通区域特性、导通电阻随漏极电流和栅极电压的变化、电容特性、栅极电荷特性、击穿电压随温度的变化、最大安全工作区、最大漏极电流与外壳温度的关系等。这些曲线有助于工程师在实际设计中更好地了解器件的性能表现,优化电路设计。
FDB38N30U采用D² - PAK封装,提供了相应的机械尺寸图。同时,其包装方式为带盘包装,盘径330mm,带宽24mm,每盘数量为800个。
ON Semiconductor产品不设计、不打算也未获授权用于生命支持系统、FDA Class 3医疗设备或具有相同或类似分类的外国医疗设备以及用于人体植入的设备。如果购买者将产品用于此类非预期或未授权的应用,需承担相应责任。
ON Semiconductor保留对产品进行更改的权利,且无需进一步通知。同时,产品的“典型”参数在不同应用中可能会有所变化,实际性能也可能随时间改变,因此客户的技术专家需要对所有工作参数进行验证。
FDB38N30U N - Channel UniFET™ Ultra FRFET™ MOSFET以其优秀的性能特性和广泛的应用领域,为电子工程师在电源设计、开关电路等方面提供了一个可靠的选择。在实际设计过程中,工程师需要充分考虑其各项技术参数和注意事项,以确保电路的性能和可靠性。大家在使用这款MOSFET时,是否遇到过一些特殊的问题呢?欢迎在评论区分享你的经验和见解。
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