电子说
在电子工程领域,MOSFET(金属 - 氧化物 - 半导体场效应晶体管)作为重要的电子元件,广泛应用于各种电路设计中。今天,我们就来深入了解一下FDD5N60NZ这款N - Channel UniFET™ II MOSFET。
文件下载:FDD5N60NZ-D.pdf
Fairchild Semiconductor已成为ON Semiconductor的一部分。由于系统要求,部分Fairchild可订购的零件编号需要更改,原编号中的下划线(_)将改为破折号( - )。大家可以在ON Semiconductor网站上核实更新后的设备编号,最新的订购信息也可在该网站获取。若有关于系统集成的问题,可发邮件至Fairchild_questions@onsemi.com。
FDD5N60NZ是一款600V、4.0A、2Ω的N - 通道UniFET™ II MOSFET。在(V{GS}=10V),(I{D}=2.0A)的条件下,典型的静态漏源导通电阻(R_{DS(on)})为1.65Ω 。
FDD5N60NZ适用于多种应用场景,包括但不限于:
| 符号 | 参数 | FDD5N60NZ值 | 单位 |
|---|---|---|---|
| (V_{DSS}) | 漏源电压 | 600 | V |
| (V_{GSS}) | 栅源电压 | ±25 | V |
| (I{D})((T{C}=25^{circ}C)) | 连续漏极电流 | 4.0 | A |
| (I{D})((T{C}=100^{circ}C)) | 连续漏极电流 | 2.4 | A |
| (I_{DM}) | 脉冲漏极电流 | 16 | A |
| (E_{AS}) | 单脉冲雪崩能量 | 216 | mJ |
| (I_{AR}) | 雪崩电流 | 4.0 | A |
| (E_{AR}) | 重复雪崩能量 | 8.3 | mJ |
| (dv/dt) | 峰值二极管恢复dv/dt | 10 | V/ns |
| (P{D})((T{C}=25^{circ}C)) | 功率耗散 | 83 | W |
| (P{D})((T{C})大于25°C时降额) | 功率耗散降额 | 0.7 | W/°C |
| (T{J}),(T{STG}) | 工作和存储温度范围 | - 55至 + 150 | °C |
| (T_{L}) | 焊接时最大引脚温度(距外壳1/8”,5秒) | 300 | °C |
| 符号 | 参数 | FDD5N60NZ值 | 单位 |
|---|---|---|---|
| (R_{θJC}) | 结到外壳的热阻(最大) | 1.5 | °C/W |
| (R_{θJA}) | 结到环境的热阻(最大) | 90 | °C/W |
文档中还给出了一系列典型性能特性曲线,如导通区域特性、导通电阻随漏极电流和栅极电压的变化、转移特性、体二极管正向电压随源极电流和温度的变化、电容特性、栅极电荷特性等。这些曲线能够帮助工程师更直观地了解该MOSFET在不同工作条件下的性能表现。
ON Semiconductor产品不设计、不打算也未获授权用于生命支持系统、FDA Class 3医疗设备或类似分类的医疗设备以及人体植入设备。如果购买或使用该产品用于非预期或未授权的应用,买方需承担相应责任。
产品状态分为不同类型,如提前信息(Formative / In Design)、初步(First Production)、无标识(Full Production)和过时(Not In Production),每种状态有其对应的定义和特点,工程师在使用时需注意。
Fairchild Semiconductor采取了强有力的措施来保护自身和客户免受假冒零件的侵害,建议客户直接从Fairchild或其授权经销商处购买产品,以确保产品的质量和可追溯性。
在实际的电子设计中,我们需要根据具体的应用需求,综合考虑FDD5N60NZ的各项参数和特性,合理选择和使用该MOSFET,以实现最佳的电路性能。大家在使用过程中遇到过哪些关于MOSFET的问题呢?欢迎在评论区分享交流。
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