电子说
在电子设计领域,MOSFET(金属 - 氧化物 - 半导体场效应晶体管)是至关重要的元件,它广泛应用于各类电源系统中。今天,我们来详细探讨一下 onsemi 的 NTB110N65S3HF 这款 N 沟道 SUPERFET III FRFET MOSFET。
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SUPERFET III MOSFET 是 onsemi 全新的高压超结(SJ)MOSFET 系列,它采用了电荷平衡技术,具备出色的低导通电阻和低栅极电荷性能。这种先进技术能有效降低传导损耗,提供卓越的开关性能,并能承受极高的 dv/dt 速率,非常适合各种需要小型化和高效率的电源系统。此外,SUPERFET III FRFET MOSFET 优化了体二极管的反向恢复性能,可减少额外元件,提高系统可靠性。
采用 D2PAK(TO - 263 3 - 引脚)封装,标记包含 onsemi 标志、组装厂代码、数据代码(年和周)、批次等信息。订购信息可参考数据手册第 2 页。
从图 1 可以看出不同栅源电压下,漏极电流与漏源电压的关系。随着栅源电压的增加,漏极电流在相同漏源电压下也会增大,这对于设计不同功率需求的电路非常有参考价值。
图 2 展示了不同温度下,漏极电流与栅源电压的关系。可以发现温度对漏极电流有一定影响,在设计时需要考虑温度补偿等措施。
图 3 显示了导通电阻随漏极电流和栅源电压的变化情况。当栅源电压固定时,导通电阻随着漏极电流的增加而略有增加;而在相同漏极电流下,较高的栅源电压会使导通电阻降低。
图 4 反映了体二极管正向电压随源极电流和温度的变化。温度升高时,在相同源极电流下,体二极管正向电压会降低。
图 5 展示了输入电容 Ciss、输出电容 Coss 和反馈电容 Crss 随漏源电压的变化。了解这些电容特性对于分析 MOSFET 的开关速度和功耗非常重要。
图 6 体现了总栅极电荷 Qg(tot) 与栅源电压的关系,有助于确定驱动电路的设计参数。
图 7 和图 8 分别展示了击穿电压和导通电阻随结温的变化。可以看出击穿电压随温度升高而略有增加,导通电阻则随温度升高而增大。
图 9 给出了不同脉宽下,漏极电流和漏源电压的安全工作范围。在设计电路时,必须确保 MOSFET 在这个范围内工作,以避免损坏。
图 10 显示了最大漏极电流随外壳温度的变化。随着外壳温度升高,最大漏极电流会下降,这在散热设计时需要重点考虑。
图 11 展示了 Eoss(输出电容存储的能量)与漏源电压的关系,对于分析开关损耗有重要意义。
图 12 反映了归一化有效瞬态热阻随脉冲持续时间和占空比的变化,可用于评估 MOSFET 在不同工作条件下的热性能。
文档中还给出了栅极电荷测试电路及波形(图 13)、电阻性开关测试电路及波形(图 14)、非钳位电感开关测试电路及波形(图 15)和峰值二极管恢复 dv/dt 测试电路及波形(图 16)。这些测试电路和波形有助于工程师深入了解 MOSFET 的工作特性,进行准确的电路设计和调试。
onsemi 的 NTB110N65S3HF MOSFET 凭借其出色的电气特性、热特性和优化的体二极管性能,在众多电源应用中具有很大的优势。工程师在设计电路时,应充分考虑其各项特性和典型性能曲线,结合实际应用需求,合理选择和使用该 MOSFET,以实现高效、可靠的电源系统设计。大家在使用这款 MOSFET 时,有没有遇到过一些特殊的问题呢?欢迎在评论区分享交流。
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