电子说
在电子工程领域,MOSFET作为关键的功率器件,广泛应用于各类电源系统中。今天我们就来深入探讨ON Semiconductor(现更名为onsemi)推出的NTD250N65S3H这款N沟道功率MOSFET。
文件下载:NTD250N65S3H-D.PDF
NTD250N65S3H属于SUPERFET III系列,这是ON Semiconductor全新的高压超结(SJ)MOSFET家族。该系列采用了电荷平衡技术,具备出色的低导通电阻和低栅极电荷性能。这种先进技术能有效降低传导损耗,提供卓越的开关性能,并且能够承受极高的dv/dt速率,有助于减小各种电源系统的体积并提高系统效率。
NTD250N65S3H适用于多种电源系统,具体包括:
| 参数 | 符号 | 数值 | 单位 |
|---|---|---|---|
| 漏源电压 | (V_{DSS}) | 650 | V |
| 栅源电压(DC) | (V_{GSS}) | ±30 | V |
| 栅源电压(AC,(f > 1Hz)) | (V_{GSS}) | ±30 | V |
| 连续漏极电流((T_{C}=25^{circ}C)) | (I_{D}) | 13 | A |
| 连续漏极电流((T_{C}=100^{circ}C)) | (I_{D}) | 8 | A |
| 脉冲漏极电流 | (I_{DM}) | 36 | A |
| 单脉冲雪崩能量 | (E_{AS}) | 108 | mJ |
| 雪崩电流 | (I_{AS}) | 2.9 | A |
| 重复雪崩能量 | (E_{AR}) | 1.06 | mJ |
| MOSFET dv/dt | (dv/dt) | 120 | V/ns |
| 峰值二极管恢复dv/dt | (dv/dt) | 20 | V/ns |
| 功率耗散((T_{C}=25^{circ}C)) | (P_{D}) | 106 | W |
| 25°C以上降额系数 | - | 0.85 | W/°C |
| 工作和存储温度范围 | (T{J}, T{STG}) | -55 to +150 | °C |
| 焊接时最大引脚温度(距外壳1/8″,5s) | (T_{L}) | 260 | °C |
需要注意的是,超过最大额定值表中列出的应力可能会损坏器件。如果超过这些限制,不能保证器件的功能,可能会发生损坏并影响可靠性。
器件在(1in^{2})的2oz铜焊盘(位于1.5 x 1.5 in.的FR - 4材料板上)上的热阻为40°C/W。
| 部件编号 | 顶部标记 | 封装 | 卷轴尺寸 | 胶带宽度 | 包装数量 |
|---|---|---|---|---|---|
| NTD250N65S3H | T250N65S3H | D - PAK | 330 mm | 16 mm | 2500/ Tape & Reel |
对于胶带和卷轴规格的详细信息,可参考Tape and Reel Packaging Specifications Brochure, BRD8011/D。
文档中给出了多个典型特性曲线,包括导通区域特性、传输特性、导通电阻随漏极电流和栅极电压的变化、二极管正向电压随源极电流和温度的变化、电容特性、栅极电荷特性、击穿电压随温度的变化、导通电阻随温度的变化、最大安全工作区、最大漏极电流随外壳温度的变化以及瞬态热响应曲线等。这些曲线为工程师在设计电路时提供了重要的参考依据。
文档还给出了栅极电荷测试电路及波形、电阻开关测试电路及波形、非钳位电感开关测试电路及波形以及峰值二极管恢复dv/dt测试电路及波形,帮助工程师更好地理解器件的工作原理和性能。
在实际的电路设计中,电子工程师需要根据具体的应用需求,结合这些特性和参数,合理选择和使用NTD250N65S3H MOSFET。大家在使用过程中,有没有遇到过什么特别的问题或者有什么独特的应用经验呢?欢迎在评论区分享交流。
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