Onsemi NTH4LN067N65S3H MOSFET:满足高效电力系统需求的理想之选

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描述

Onsemi NTH4LN067N65S3H MOSFET:满足高效电力系统需求的理想之选

在电子工程领域,MOSFET作为关键的功率半导体器件,其性能直接影响着各类电力系统的效率和稳定性。Onsemi推出的NTH4LN067N65S3H MOSFET,凭借其卓越的性能和先进的技术,成为众多电力系统应用的理想选择。

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产品概述

NTH4LN067N65S3H属于Onsemi的SUPERFET III系列,这是一款全新的高压超结(SJ)MOSFET产品。它采用了电荷平衡技术,具有出色的低导通电阻和较低的栅极电荷性能。这种先进技术不仅能有效降低传导损耗,还具备卓越的开关性能,能够承受极高的dv/dt速率。因此,SUPERFET III MOSFET FAST系列非常适合各种追求小型化和高效率的电力系统。

产品特性

电气性能优越

  • 耐压能力强:在TJ = 150°C时,可承受700V的电压;正常工作时,漏源击穿电压(BVDSS)在TJ = 25°C时为650V,TJ = 150°C时可达700V。
  • 低导通电阻:典型的RDS(on)为55mΩ,在VGS = 10V、ID = 20A的测试条件下,最大RDS(on)为67mΩ,能有效降低导通损耗。
  • 低栅极电荷:典型的Qg = 80nC,可减少开关过程中的能量损耗,提高开关速度。
  • 低输出电容:典型的Coss(eff.) = 691pF,有助于降低开关损耗。

可靠性高

  • 雪崩测试:该器件经过100%雪崩测试,能够承受一定的雪崩能量,提高了产品的可靠性。
  • 环保合规:符合RoHS标准,无铅设计,满足环保要求。

应用领域

NTH4LN067N65S3H适用于多种电力系统,包括但不限于:

  • 电信/服务器电源:在电信和服务器领域,对电源的效率和稳定性要求极高。该MOSFET的低导通电阻和卓越的开关性能,能够有效提高电源的转换效率,降低功耗。
  • 工业电源:工业环境对电源的可靠性和耐用性要求较高。NTH4LN067N65S3H的高耐压能力和雪崩测试特性,使其能够在复杂的工业环境中稳定工作。
  • UPS/太阳能:在不间断电源(UPS)和太阳能系统中,需要高效的功率转换和可靠的保护机制。该MOSFET能够满足这些需求,提高系统的整体性能。

绝对最大额定值

参数 符号 数值 单位
漏源电压 VDSS 650 V
栅源电压(DC) VGSS ±30 V
栅源电压(AC,f > 1Hz) VGSS ±30 V
连续漏极电流(TC = 25°C) ID 40 A
连续漏极电流(TC = 100°C) ID 25 A
脉冲漏极电流 IDM 112 A
单脉冲雪崩能量 EAS 422 mJ
雪崩电流 IAS 6.5 A
重复雪崩能量 EAR 2.66 mJ
MOSFET dv/dt dv/dt 100 V/ns
峰值二极管恢复dv/dt - 20 -
功率耗散(TC = 25°C) PD 266 W
25°C以上降额 - 2.13 W/°C
工作和存储温度范围 TJ, TSTG -55 to +150 °C
焊接时最大引线温度(距外壳1/8″,5秒) TL 260 °C

需要注意的是,超过绝对最大额定值可能会损坏器件,影响其功能和可靠性。

热特性

  • 结到外壳热阻(RJC):最大为0.47°C/W。
  • 结到环境热阻(RJA):最大为40°C/W。

了解热特性对于合理设计散热系统至关重要,能够确保器件在正常工作温度范围内稳定运行。

电气特性

关断特性

  • 漏源击穿电压(BVDSS):在VGS = 0V、ID = 1mA、TJ = 25°C时为650V;在TJ = 150°C时为700V。
  • 零栅压漏极电流(IDSS):在VDS = 650V、VGS = 0V时,最大值为2μA;在VDS = 520V、TC = 125°C时,典型值为1.6μA。
  • 栅体泄漏电流(IGSS):在VGS = ±30V、VDS = 0V时,最大值为±100nA。

导通特性

  • 栅极阈值电压(VGS(th)):在VGS = VDS、ID = 3.9mA时,最小值为2.4V,最大值为4.0V。
  • 静态漏源导通电阻(RDS(on)):在VGS = 10V、ID = 20A时,典型值为55mΩ,最大值为67mΩ。
  • 正向跨导(gFS):在VDS = 20V、ID = 20A时,典型值为28S。

动态特性

  • 输入电容(Ciss):在VDS = 400V、VGS = 0V、f = 250kHz时,典型值为3750pF。
  • 输出电容(Coss):典型值为60pF。
  • 有效输出电容(Coss(eff.)):在VDS从0V到400V、VGS = 0V时,典型值为691pF。
  • 与能量相关的输出电容(Coss(er.)):在VDS从0V到400V、VGS = 0V时,典型值为107pF。
  • 总栅极电荷(Qg(tot)):在VDS = 400V、ID = 20A、VGS = 10V时,典型值为80nC。
  • 栅源栅极电荷(Qgs):典型值为21nC。
  • 栅漏“米勒”电荷(Qgd):典型值为20nC。
  • 等效串联电阻(ESR):在f = 1MHz时,典型值为0.6Ω。

开关特性

  • 导通延迟时间(td(on)):在VDD = 400V、ID = 20A、VGS = 10V、Rg = 4.7Ω时,典型值为28ns。
  • 导通上升时间(tr):典型值为7.2ns。
  • 关断延迟时间(td(off)):典型值为81ns。
  • 关断下降时间(tf):典型值为2.6ns。

源漏二极管特性

  • 最大连续源漏二极管正向电流(IS):最大值为40A。
  • 最大脉冲源漏二极管正向电流(ISM):最大值为112A。
  • 源漏二极管正向电压(VSD):在VGS = 0V、ISD = 20A时,最大值为1.2V。
  • 反向恢复时间(trr):在VGS = 0V、ISD = 20A、dIF/dt = 100A/μs时,典型值为411ns。
  • 反向恢复电荷(Qrr):典型值为7.8μC。

典型特性曲线

文档中提供了多种典型特性曲线,包括导通区域特性、传输特性、导通电阻随漏极电流和栅极电压的变化、体二极管正向电压随源电流和温度的变化、电容特性、栅极电荷特性、击穿电压随温度的变化、导通电阻随温度的变化、最大安全工作区、最大漏极电流随外壳温度的变化、Eoss随漏源电压的变化、瞬态热阻抗等。这些曲线能够帮助工程师更好地了解器件在不同工作条件下的性能,为电路设计提供参考。

封装信息

NTH4LN067N65S3H采用TO - 247 4 - 引脚、细引脚封装(CASE 340CW),提供了详细的封装尺寸信息,包括各尺寸的最小值、标称值和最大值。在进行PCB设计时,需要根据这些尺寸信息合理布局器件,确保安装和散热的有效性。

总结

Onsemi的NTH4LN067N65S3H MOSFET凭借其卓越的性能、高可靠性和广泛的应用领域,为电子工程师在设计各类电力系统时提供了一个优秀的选择。在实际应用中,工程师需要根据具体的电路需求和工作条件,合理选择和使用该器件,并注意其绝对最大额定值和热特性,以确保系统的稳定运行。你在使用这款MOSFET的过程中遇到过哪些问题呢?欢迎在评论区分享你的经验和见解。

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