电子说
在电子工程领域,MOSFET(金属 - 氧化物 - 半导体场效应晶体管)是功率电子系统中不可或缺的关键元件。Onsemi(安森美)推出的 NVB190N65S3F N 沟道 MOSFET,以其卓越的性能和特性,在众多应用场景中展现出强大的竞争力。本文将对该 MOSFET 进行详细分析,探讨其技术特点、性能参数以及典型应用。
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NVB190N65S3F 属于 Onsemi 的 SUPERFET® III MOSFET 系列,这是全新的高压超结(SJ)MOSFET 家族。该系列采用电荷平衡技术,具备出色的低导通电阻和低栅极电荷性能,能够有效降低传导损耗,提供卓越的开关性能,并能承受极高的 dv/dt 速率,非常适合各种追求小型化和高效率的电源系统。此外,SUPERFET III FRFET® MOSFET 优化了体二极管的反向恢复性能,可减少额外元件的使用,提高系统可靠性。
| 参数 | 符号 | 数值 | 单位 |
|---|---|---|---|
| 漏源电压 | (V_{DSS}) | 650 | V |
| 栅源电压(直流) | (V_{GS})(DC) | ±30 | V |
| 栅源电压(交流,(f > 1Hz)) | (V_{GS})(AC) | ±30 | V |
| 连续漏极电流((T_{C}=25^{circ}C)) | (I{D})(Continuous,(T{C}=25^{circ}C)) | 20 | A |
| 连续漏极电流((T_{C}=100^{circ}C)) | (I{D})(Continuous,(T{C}=100^{circ}C)) | 12.7 | A |
| 脉冲漏极电流 | (I_{DM}) | 50 | A |
| 单脉冲雪崩能量 | (E_{AS}) | 220 | mJ |
| 雪崩电流 | (I_{AS}) | 2.8 | A |
| 重复雪崩能量 | (E_{AR}) | 1.62 | mJ |
| MOSFET dv/dt | (dv/dt) | 100 | V/ns |
| 峰值二极管恢复 dv/dt | (dv/dt)(Peak Diode Recovery) | 50 | V/ns |
| 功率耗散((T_{C}=25^{circ}C)) | (P{D})((T{C}=25^{circ}C)) | 162 | W |
| 功率耗散降额((T_{C}>25^{circ}C)) | (P_{D})(Derate Above (25^{circ}C)) | 1.3 | W/°C |
| 工作结温和存储温度 | (T{J}),(T{stg}) | - 55 至 150 | °C |
| 焊接时最大引脚温度(距外壳 1/8″,5 秒) | (T_{L}) | 300 | °C |
需要注意的是,超过最大额定值可能会损坏器件,影响其功能和可靠性。
| 参数 | 符号 | 最大值 | 单位 |
|---|---|---|---|
| 结到外壳热阻 | (R_{JC}) | 0.77 | °C/W |
| 结到环境热阻 | (R_{JA}) | 40 | °C/W |
热阻特性对于 MOSFET 的散热设计至关重要,合理的散热设计可以确保器件在正常工作温度范围内,提高其可靠性和性能。
通过图 1 和图 2 可以看出,在不同温度(25°C 和 150°C)下,漏极电流 (I{D}) 随漏源电压 (V{DS}) 和栅源电压 (V{GS}) 的变化关系。随着 (V{GS}) 的增加,(I{D}) 也相应增加,并且在高温下,(I{D}) 的变化趋势有所不同。这对于工程师在不同工作温度下选择合适的 (V{GS}) 和 (V{DS}) 具有重要指导意义。
图 3 展示了漏极电流 (I{D}) 与栅源电压 (V{GS}) 的关系,不同温度下的曲线有所差异。这有助于工程师了解 MOSFET 在不同温度下的放大特性,从而优化电路设计。
图 4 显示了导通电阻 (R{DS(on)}) 随漏极电流 (I{D}) 和栅源电压 (V{GS}) 的变化情况。在实际应用中,工程师可以根据负载电流和 (V{GS}) 的大小,选择合适的工作点,以降低导通损耗。
图 5 呈现了体二极管正向电压 (V{SD}) 随源电流 (I{S}) 和温度的变化关系。了解体二极管的特性对于设计反并联二极管的电路非常重要,有助于提高系统的可靠性。
图 6 展示了输入电容 (C{iss})、输出电容 (C{oss}) 等随漏源电压 (V_{DS}) 的变化情况。电容特性会影响 MOSFET 的开关速度和开关损耗,工程师可以根据实际需求选择合适的工作电压,以优化开关性能。
图 7 显示了栅极总电荷 (Q{G}) 与栅源电压 (V{GS}) 和漏源电压 (V_{DD}) 的关系。这对于设计栅极驱动电路非常重要,合理的栅极驱动可以减少开关损耗,提高系统效率。
图 8 和图 9 分别展示了击穿电压 (BVDSS) 和导通电阻 (R{DS(on)}) 随结温 (T{J}) 的变化情况。了解这些特性有助于工程师在不同温度环境下评估 MOSFET 的性能,确保系统的稳定性。
图 10 和图 11 分别给出了最大安全工作区和最大漏极电流与外壳温度的关系。工程师可以根据这些曲线确定 MOSFET 在不同工作条件下的安全工作范围,避免器件因过流、过压等原因损坏。
图 12 展示了 (E{oss}) 随漏源电压 (V{DS}) 的变化情况。(E_{oss}) 是输出电容存储的能量,了解其特性有助于优化开关电路的设计,减少能量损耗。
图 13 显示了归一化功率耗散与外壳温度的关系。这对于散热设计非常重要,工程师可以根据外壳温度和功率耗散的关系,选择合适的散热方式和散热器件。
图 14 和图 15 分别展示了峰值电流能力和导通电阻 (R{DS(on)}) 与栅源电压 (V{GS}) 的关系。这些特性对于设计高功率、高开关频率的电路非常重要,工程师可以根据实际需求选择合适的 (V_{GS}),以提高系统的性能。
图 16 展示了归一化栅极阈值电压与结温 (T_{J}) 的关系。了解栅极阈值电压随温度的变化情况,有助于工程师在不同温度环境下设计合适的栅极驱动电路,确保 MOSFET 正常工作。
图 17 给出了瞬态热响应曲线,这对于评估 MOSFET 在脉冲工作条件下的热性能非常重要。工程师可以根据曲线计算出在不同脉冲宽度和占空比下的结温,从而优化散热设计。
随着电动汽车的普及,车载充电器的需求日益增长。NVB190N65S3F 的高耐压、低导通电阻和良好的开关性能,使其非常适合用于汽车车载充电器的设计。它可以提高充电器的效率,减少发热,从而提高系统的可靠性和稳定性。
在 HEV 的 DC/DC 转换器中,需要高效、可靠的功率开关器件。NVB190N65S3F 能够满足这些要求,其低导通损耗和快速开关特性可以提高转换器的效率,降低能量损耗,延长电池续航时间。
NVB190N65S3F 采用 D2PAK 封装,以 Tape & Reel 方式包装,卷盘尺寸为 330mm,胶带宽度为 24mm,每卷数量为 800 个。具体的封装尺寸和引脚信息可参考文档中的机械尺寸图。
Onsemi 的 NVB190N65S3F MOSFET 凭借其出色的性能和特性,在汽车电子等领域具有广阔的应用前景。电子工程师在设计电源系统时,可以充分利用其低导通电阻、低栅极电荷和高耐压等优势,提高系统的效率和可靠性。同时,通过深入了解其各项特性曲线和参数,工程师可以更好地优化电路设计,满足不同应用场景的需求。
你在实际设计中是否遇到过类似 MOSFET 的选型和应用问题呢?欢迎在评论区分享你的经验和见解。
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