onsemi NVMTS1D1N04C单通道N沟道MOSFET:设计利器解析

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onsemi NVMTS1D1N04C单通道N沟道MOSFET:设计利器解析

在电子设计领域,MOSFET(金属 - 氧化物 - 半导体场效应晶体管)是不可或缺的关键元件。今天,我们就来深入剖析onsemi推出的NVMTS1D1N04C单通道N沟道MOSFET,看看它在设计中能为我们带来哪些优势。

文件下载:NVMTS1D1N04C-D.PDF

产品概述

NVMTS1D1N04C是一款耐压40V、导通电阻低至1.1mΩ、最大电流可达277A的单通道N沟道MOSFET。它采用了小巧的8x8mm封装,非常适合紧凑型设计。同时,该产品具有低导通电阻、低栅极电荷和电容等特点,能有效降低导通损耗和驱动损耗。此外,它还通过了AEC - Q101认证,具备PPAP能力,并且符合Pb - Free和RoHS标准。

关键参数与特性

最大额定值

参数 符号 数值 单位
漏源电压 VDSS 40 V
栅源电压 VGS +20 V
稳态连续漏极电流(Tc = 25°C) ID 277 A
稳态连续漏极电流(Tc = 100°C) ID 196 A
功率耗散(Tc = 25°C) PD 153 W
功率耗散(Tc = 100°C) PD 76.5 W
脉冲漏极电流(TA = 25°C,tp = 10μs) IDM 900 A
工作结温和存储温度范围 TJ,Tstg -55 to +175 °C
源极电流(体二极管) IS 128 A
单脉冲漏源雪崩能量(L(pk) = 22A) EAS 721 mJ
焊接用引脚温度(距外壳1/8英寸,10s) TL 260 °C

从这些参数可以看出,NVMTS1D1N04C在电压、电流和温度等方面都有较为出色的表现,能够适应多种复杂的工作环境。

电气特性

关断特性

  • 漏源击穿电压:V(BR)DSS在VGS = 0V、ID = 250μA时为40V,温度系数为21mV/°C。
  • 零栅压漏极电流:在VGS = 0V、VDS = 40V条件下,TJ = 25°C时为10μA,TJ = 125°C时为250μA。
  • 栅源泄漏电流:VDS = 0V、VGS = ±20V时为±100nA。

导通特性

  • 栅极阈值电压:VGS(TH)在VGS = VDS、ID = 210μA时,典型值为2.8V,范围在2.0 - 4.0V之间。
  • 阈值温度系数:-7.4mV/°C。
  • 漏源导通电阻:VGS = 10V、ID = 50A时,典型值为1.1mΩ,最小值为0.87mΩ。
  • 正向跨导:VDS = 5V、ID = 50A时为136S。

电荷、电容与栅极电阻

  • 输入电容:CISS在VGS = 0V、f = 1MHz、VDS = 25V时为5410pF。
  • 输出电容:COSS为3145pF。
  • 反向传输电容:CRSS为82pF。
  • 总栅极电荷:QG(TOT)在VGS = 10V、VDS = 20V、ID = 50A时为86nC。
  • 阈值栅极电荷:QG(TH)为10nC。
  • 栅源电荷:QGS为24nC。
  • 栅漏电荷:QGD为24nC。
  • 平台电压:VGP为4.8V。

开关特性

在VGS = 10V、VDS = 20V、ID = 50A、RG = 6Ω条件下:

  • 开启延迟时间td(ON)为23ns。
  • 上升时间tr为27ns。
  • 关断延迟时间td(OFF)为60ns。
  • 下降时间tf为32ns。

漏源二极管特性

  • 正向二极管电压:VSD在VGS = 0V、IS = 50A时,TJ = 25°C时为0.79 - 1.2V,TJ = 125°C时为0.65V。
  • 反向恢复时间:tRR为81ns。
  • 充电时间:ta为43ns。
  • 放电时间:tb为38ns。
  • 反向恢复电荷:QRR为100nC。

典型特性

文档中给出了多个典型特性曲线,直观地展示了该MOSFET在不同条件下的性能表现:

  • 导通区域特性:展示了不同栅源电压下,漏极电流与漏源电压的关系。
  • 传输特性:呈现了不同结温下,漏极电流与栅源电压的关系。
  • 导通电阻与栅源电压关系:体现了导通电阻随栅源电压的变化情况。
  • 导通电阻与漏极电流和栅极电压关系:反映了导通电阻在不同漏极电流和栅极电压下的变化。
  • 导通电阻随温度变化:显示了导通电阻随结温的变化趋势。
  • 漏源泄漏电流与电压关系:展示了漏源泄漏电流与漏源电压的关系。
  • 电容变化:呈现了输入、输出和反向传输电容随漏源电压的变化。
  • 栅源电压与总电荷关系:体现了栅源电压与总栅极电荷的关系。
  • 电阻性开关时间随栅极电阻变化:展示了开关时间随栅极电阻的变化情况。
  • 二极管正向电压与电流关系:呈现了二极管正向电压与电流的关系。
  • 最大额定正向偏置安全工作区:界定了该MOSFET在不同脉冲时间和电压下的安全工作范围。
  • 峰值电流与雪崩时间关系:展示了峰值电流与雪崩时间的关系。
  • 热特性:体现了有效瞬态热阻随脉冲持续时间的变化。

封装与订购信息

NVMTS1D1N04C采用TDFNW8 8.30x8.40x1.10, 2.00P封装,文档详细给出了封装的尺寸和机械轮廓信息。同时,提供了两种订购型号:NVMTS1D1N04CTXG和NVMTS1D1N04CETXG,均采用3000 / Tape & Reel的包装方式。

应用建议

在实际应用中,我们需要根据具体的设计需求,合理选择该MOSFET。例如,在对空间要求较高的紧凑型设计中,其小巧的封装能够节省电路板空间;在需要降低功耗的应用中,低导通电阻和低栅极电荷的特性可以有效减少能量损耗。同时,由于其通过了AEC - Q101认证,适合用于汽车电子等对可靠性要求较高的领域。

总结

onsemi的NVMTS1D1N04C单通道N沟道MOSFET以其出色的性能和丰富的特性,为电子工程师在设计中提供了更多的选择和便利。无论是在导通损耗、驱动损耗还是在可靠性方面,都表现出了较高的水准。不过,在实际使用中,我们仍需根据具体的应用场景,仔细评估各项参数,确保其能够满足设计要求。各位工程师朋友们,在你们的设计中是否会考虑使用这款MOSFET呢?欢迎在评论区分享你们的看法。

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