电子说
在电子设备的设计中,MOSFET作为关键的功率开关器件,对设备的性能和效率起着至关重要的作用。今天,我们就来深入了解一下安森美(onsemi)推出的NVMJST1D2N04C单通道N沟道MOSFET,看看它有哪些独特的特性和优势。
文件下载:NVMJST1D2N04C-D.PDF
NVMJST1D2N04C采用了5x7mm的小尺寸封装(TCPAK57),这种紧凑的设计非常适合对空间要求较高的应用场景,能够帮助工程师在有限的空间内实现更复杂的电路布局。
该器件通过了AEC - Q101认证,并且具备PPAP能力,这意味着它能够满足汽车电子等对可靠性要求极高的应用场景。同时,它还符合无铅和RoHS标准,环保性能出色。
| 参数 | 条件 | 值 | 单位 |
|---|---|---|---|
| 漏源电压 | (T_{C}=25^{circ}C) | 451 | A |
| 连续漏极电流 | (T_{C}=25^{circ}C) | 227 | W |
| 脉冲漏极电流 | (T_{C}=25^{circ}C) | 900 | A |
| 工作结温和存储温度范围 | - | -55 to 150 | (^{circ}C) |
| 焊接引线温度 | - | 260 | (^{circ}C) |
需要注意的是,超过最大额定值可能会损坏器件,影响其功能和可靠性。
| 参数 | 符号 | 值 | 单位 |
|---|---|---|---|
| 结到壳稳态热阻 | (R_{JC}) | 0.33 | (^{circ}C/W) |
| 结到环境稳态热阻(注2) | (R_{JA}) | 29 | (^{circ}C/W) |
| 结到漏极引线热阻 | (R_{JL}) | 5.2 | (^{circ}C/W) |
| 结到源极引线热阻 | (R_{JL}) | 5.16 | (^{circ}C/W) |
| 结到散热器顶部热阻(注2) | (R_{JH}) | 1.5 | (^{circ}C/W) |
这里要提醒大家,热阻参数会受到整个应用环境的影响,并非固定值,仅在特定条件下有效。
| 参数 | 符号 | 测试条件 | 典型值 | 单位 |
|---|---|---|---|---|
| 输入电容 | (C_{ISS}) | (V{GS}=0V),(f = 1MHz),(V{DS}=20V) | 5340 | pF |
| 输出电容 | (C_{OSS}) | - | 3500 | pF |
| 反向传输电容 | (C_{RSS}) | - | 140 | pF |
| 总栅极电荷 | (Q_{G(TOT)}) | (V{GS}=10V),(V{DS}=32V),(I_{D}=50A) | 82 | nC |
| 阈值栅极电荷 | (Q_{G(TH)}) | - | 5.3 | nC |
| 栅源电荷 | (Q_{GS}) | - | 21 | nC |
| 栅漏电荷 | (Q_{GD}) | (V{GS}=10V),(V{DS}=32V),(I_{D}=50A) | 23 | nC |
| 平台电压 | (V_{GP}) | - | 4.7 | V |
| 参数 | 符号 | 测试条件 | 典型值 | 单位 |
|---|---|---|---|---|
| 开启延迟时间 | (t_{d(ON)}) | - | 22 | ns |
| 上升时间 | - | (V{GS}=10V),(V{DS}=32V) | 19 | ns |
| 关断延迟时间 | (t_{d(OFF)}) | (I{D}=50A),(R{G}=2.5Omega) | 54 | ns |
| 下降时间 | - | - | 20 | ns |
文档中还给出了一系列典型特性曲线,包括导通区域特性、传输特性、导通电阻与栅源电压关系、导通电阻与漏极电流和栅极电压关系、导通电阻随温度变化、漏源泄漏电流与电压关系、电容变化、栅源与总电荷关系、电阻性开关时间随栅极电阻变化、二极管正向电压与电流关系、最大额定正向偏置安全工作区、峰值电流与雪崩时间关系以及热特性等。这些曲线能够帮助工程师更直观地了解该MOSFET在不同条件下的性能表现,从而更好地进行电路设计。
NVMJST1D2N04C采用TCPAK57封装,提供了详细的封装尺寸信息。在订购时,可选择NVMJST1D2N04CTXG型号,采用3000个/卷带盘的包装形式。对于卷带规格的详细信息,可参考相关的包装规格手册。
安森美NVMJST1D2N04C单通道N沟道MOSFET凭借其紧凑的设计、低损耗性能和汽车级标准,在众多应用场景中具有很大的优势。作为电子工程师,在进行电路设计时,我们需要综合考虑其各项参数和特性,根据具体的应用需求来选择合适的器件。同时,也要注意器件的最大额定值和热阻等因素,确保电路的可靠性和稳定性。大家在实际应用中是否遇到过类似MOSFET的使用问题呢?欢迎在评论区分享你的经验和见解。
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