电子说
在电子工程师的日常设计中,MOSFET 是不可或缺的元件。今天,我们来深入了解 Onsemi 推出的 NDP6060L 和 NDB6060L 这两款 N 沟道增强型场效应晶体管,看看它们在低电压应用中能带来怎样的优势。
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NDP6060L 和 NDB6060L 采用了 Onsemi 专有的高单元密度 DMOS 技术。这种技术经过特别优化,能有效降低导通电阻,提供卓越的开关性能,还能在雪崩和换向模式下承受高能量脉冲。这两款器件非常适合用于汽车、DC/DC 转换器、PWM 电机控制以及其他需要快速开关、低在线功率损耗和抗瞬态能力的电池供电电路等低电压应用场景。
| 在使用这两款 MOSFET 时,需要注意其最大额定值。例如,在 (T_{C}=25^{circ}C) 时,漏 - 源电压、栅 - 源电压等都有相应的限制。超过这些额定值可能会损坏器件,影响其功能和可靠性。具体的额定值如下表所示: | Symbol | Rating | NDP6060L/ NDB6060L |
|---|---|---|---|
| (V_{DSS}) | Drain - Source Voltage | 60V | |
| (V_{GSS}) | Nonrepetitive ((t_{p}<50mu s)) | ±16V | |
| (I_{D}) | Continuous Drain Current | 48A | |
| (P_{D}) | Total Power Dissipation @ (T_{C}=25^{circ}C) | 0.67W/°C |
单脉冲漏 - 源雪崩能量 (W{DSS}) 在 (V{DD}=25V),(I{D}=48A) 时最大为 200mJ,最大漏 - 源雪崩电流 (I{AR}) 为 48A。这表明它们在雪崩模式下有较好的能量承受能力。
包括输入电容 (C{iss})、输出电容 (C{oss}) 和反向传输电容 (C{rss}) 等,这些参数对于开关性能有重要影响。例如,(C{iss}) 在 (V{DS}=25V),(V{GS}=0V),(f = 1.0MHz) 时为 1630 - 2000pF。
如导通延迟时间 (t{D(on)})、导通上升时间 (t{r})、关断延迟时间 (t{D(off)}) 和关断下降时间 (t{f}) 等,这些时间参数决定了 MOSFET 的开关速度。例如,在 (V{DD}=30V),(I{D}=48A),(V{GS}=5V),(R{GEN}=15Omega),(R{GS}=15Omega) 条件下,(t{D(on)}) 为 15 - 30ns。
最大连续漏 - 源二极管正向电流 (I{S}) 为 48A,最大脉冲漏 - 源二极管正向电流 (I{SM}) 为 144A,正向电压 (V{SD}) 在 (V{GS}=0V),(I{S}=24A) 时为 1.3V((T{J}=25^{circ}C)),(T_{J}=125^{circ}C) 时为 1.2V。
结到外壳的热阻 (R{theta JC}) 为 1.5°C/W,结到环境的热阻 (R{theta JA}) 为 62.5°C/W。了解这些热特性对于散热设计非常重要,以确保 MOSFET 在工作过程中不会因过热而损坏。
文档中给出了一系列典型特性曲线,展示了导通电阻随栅极电压、漏极电流和温度的变化,以及转移特性、跨导随漏极电流和温度的变化等。这些曲线可以帮助工程师更好地理解 MOSFET 在不同工作条件下的性能,从而进行更优化的电路设计。例如,从导通电阻随温度的变化曲线可以看出,随着温度升高,导通电阻会增大,这在设计散热和功率损耗时需要考虑。
NDP6060L 采用 TO - 220 - 3LD 封装,适用于通孔安装;NDB6060L 采用 D2PAK - 3(TO - 263,3 - 引脚)封装,适用于表面贴装。文档中还给出了详细的封装尺寸和引脚图,方便工程师进行 PCB 设计。
两款器件均为无铅产品,每管包装数量均为 800 个。如果需要了解卷带包装规格,可以参考相关的卷带包装规范手册。
总的来说,Onsemi 的 NDP6060L 和 NDB6060L MOSFET 凭借其出色的电气性能、低导通电阻、高温稳定性和环保设计等优点,在低电压应用中具有很大的优势。电子工程师在设计相关电路时,可以根据具体需求考虑使用这两款器件。大家在实际应用中有没有遇到过类似 MOSFET 的使用问题呢?欢迎在评论区分享交流。
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