FQB19N20L N - 通道QFET® MOSFET深度解析

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FQB19N20L N - 通道QFET® MOSFET深度解析

一、引言

在电子工程领域,MOSFET作为重要的功率器件,广泛应用于各种电源和电路设计中。今天我们要深入探讨的是FQB19N20L这款N - 通道QFET® MOSFET,它由Fairchild Semiconductor(现属于ON Semiconductor)生产,具有独特的性能和应用优势。

文件下载:FQB19N20L-D.pdf

二、产品背景与变更说明

Fairchild Semiconductor已被ON Semiconductor整合。由于ON Semiconductor产品管理系统无法处理带有下划线(_)的零件命名,原Fairchild零件编号中的下划线将改为破折号(-)。所以大家在使用时,要通过ON Semiconductor网站核实更新后的器件编号,最新的订购信息可在www.onsemi.com查询。若对系统集成有疑问,可发邮件至Fairchild_questions@onsemi.com。

三、FQB19N20L MOSFET详细介绍

3.1 产品描述

FQB19N20L是一款N - 通道增强型功率MOSFET,采用了Fairchild Semiconductor专有的平面条纹和DMOS技术。这种先进技术能有效降低导通电阻,提供卓越的开关性能和高雪崩能量强度,适用于开关模式电源、有源功率因数校正(PFC)和电子灯镇流器等应用。

3.2 产品特性

  • 高电流与耐压能力:能够承受21 A的电流,耐压达到200 V,在VGS = 10 V、ID = 9.7 A时,最大导通电阻RDS(on)为140 mΩ。
  • 低栅极电荷:典型栅极电荷仅为31 nC,有助于减少开关损耗,提高开关速度。
  • 低Crss:典型Crss值为30 pF,能降低米勒效应的影响,改善开关性能。
  • 100%雪崩测试:经过100%雪崩测试,保证了器件在雪崩状态下的可靠性。
  • 符合RoHS标准:产品符合RoHS标准,环保无污染。

3.3 绝对最大额定值

参数 符号 FQB19N20LTM 单位
结到外壳的热阻(最大) RθJC 0.89 °C/W
结到环境的热阻(2盎司铜最小焊盘,最大) RθJA 62.5 °C/W
结到环境的热阻(1平方英寸2盎司铜焊盘,最大) RθJA 40 °C/W
焊接时离外壳1/8英寸处5秒的最大引脚温度

3.4 电气特性

3.4.1 关断特性

参数 描述 测试条件 最小值 典型值 最大值 单位
BVdss 漏源击穿电压 VGs = 0V,ID = 250μA 200 V
ΔBVdss /ΔT 击穿电压温度系数 ID = 250 μA,参考25°C 0.16 V/°C
IDss 零栅压漏极电流 Vds = 200 V,Vgs = 0V - - 1 μA
Vds = 160 V,Tc = 125°C - 10 μA
IGSSF 栅 - 体正向漏电流 Vgs = 20V,Vds = 0V 100 nA
IGSSR 栅 - 体反向漏电流 Vgs = -20 V,Vds = 0V -100 nA

3.4.2 导通特性

参数 描述 测试条件 最小值 典型值 最大值 单位
gFs 正向跨导 VDs = 30V,ID = 10.5A 0.12 0.15 S
RDs(on) 静态漏源导通电阻 VGs = 5V,ID = 10.5A 0.11 0.14 Ω
VGs(th) 栅极阈值电压 VDs = VGs,ID = 250 μA 1.0 2.0 V

3.4.3 动态特性

参数 描述 测试条件 最小值 典型值 最大值 单位
Crss 反向传输电容 f = 1.0MHz 30 40 pF
Coss 输出电容 Vds = 25V,Vgs = 0V 1700 2200 pF
Ciss 输入电容 pF

3.4.4 开关特性

参数 描述 测试条件 最小值 典型值 最大值 单位
导通延迟时间
tr
关断下降时间 VDS = 160 V,ID = 21 A 180 ns
27 ns
栅源电荷 5.8 nC
Qgd

3.4.5 漏源二极管特性和最大额定值

参数 描述 最小值 典型值 最大值 单位
Is 最大连续漏源二极管正向电流 21 A
ISM 最大脉冲漏源二极管正向电流 84 A
VSD 漏源二极管正向电压 VGs = 0V,Is = 21A 1.5 V
trr 反向恢复时间 VGs = 0V,Is = 21A,dip / dt = 100 A/μs 140 ns
Qrr 反向恢复电荷 0.66 μC

3.5 典型特性曲线

文档中提供了一系列典型特性曲线,包括导通区域特性、传输特性、导通电阻随漏极电流和栅极电压的变化、体二极管正向电压随源极电流和温度的变化、电容特性、栅极电荷特性、击穿电压随温度的变化、导通电阻随温度的变化、最大安全工作区、最大漏极电流与外壳温度的关系、瞬态热响应曲线等。这些曲线对于工程师理解器件在不同条件下的性能非常有帮助。

3.6 机械尺寸

FQB19N20L采用TO263(D²PAK)封装,为模制、2引脚、表面贴装形式。需要注意的是,封装图纸可能会随时更改,大家要留意图纸的版本和日期,并联系Fairchild Semiconductor代表核实或获取最新版本。

四、商标与免责声明

文档中列出了Fairchild Semiconductor及其全球子公司拥有的众多商标,同时也包含了ON Semiconductor的相关商标信息。此外,还强调了ON Semiconductor对产品的免责声明,如对产品适用性不做保证,不承担因产品应用或使用产生的任何责任等。

五、产品状态定义

数据手册标识 产品状态 定义
提前信息 形成/设计中 数据手册包含产品开发的设计规格,规格可能随时更改。
初步 首次生产 数据手册包含初步数据,后续会发布补充数据,Fairchild Semiconductor有权随时更改设计。
无需标识 全面生产 数据手册包含最终规格,Fairchild Semiconductor有权随时更改设计。
过时 停产 数据手册包含已停产产品的规格,仅供参考。

六、总结

FQB19N20L N - 通道QFET® MOSFET凭借其先进的技术和出色的性能,在开关模式电源、PFC和电子灯镇流器等领域有着广泛的应用前景。作为电子工程师,在设计相关电路时,要充分考虑其各项特性和参数,结合实际应用需求进行合理选择。同时,也要关注产品的变更信息和相关的免责声明,确保设计的可靠性和安全性。大家在实际应用中遇到过哪些关于MOSFET的问题呢?欢迎在评论区分享交流。

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