深度解析FDS6975双P沟道逻辑电平PowerTrench MOSFET

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深度解析FDS6975双P沟道逻辑电平PowerTrench MOSFET

在电子工程领域,MOSFET作为关键的电子元件,广泛应用于各种电路设计中。今天,我们就来深入探讨ON Semiconductor(现onsemi)推出的FDS6975双P沟道、逻辑电平、PowerTrench MOSFET。

文件下载:FDS6975-D.PDF

一、产品概述

FDS6975采用ON Semiconductor先进的PowerTrench工艺生产,这种工艺经过特别优化,能够在降低导通电阻的同时,保持较低的栅极电荷,从而实现卓越的开关性能。该产品适用于笔记本电脑应用,如负载开关、电源管理、电池充电电路以及DC/DC转换等。

二、关键参数

(一)绝对最大额定值

在TA = 25°C(除非另有说明)的条件下,其主要参数如下: 符号 参数 额定值 单位
VDSS 漏源电压 -30 V
VGSS 栅源电压 ±20 V
ID(连续) 漏极电流(连续) -6 A
ID(脉冲) 漏极电流(脉冲) -20 A
PD(双操作) 双操作时的功率耗散 2 W
PD(单操作) 单操作时的功率耗散 1.6(注1a)
1(注1b)
0.9(注1c)
W
TJ, TSTG 工作和储存温度范围 -55 至 150 °C

(二)热特性

  • 热阻(结到环境)RθJA:在不同条件下有不同的值,如在2oz铜的0.5 in²焊盘上为78 °C/W 。
  • 热阻(结到外壳)RθJC:40 °C/W 。

(三)电气特性

1. 关断特性

  • 漏源击穿电压BVDSS:VGS = 0 V,ID = -250 µA时为 -30 V 。
  • 击穿电压温度系数∆BVDSS/∆TJ:ID = -250 µA,参考25 °C时为 -21 mV/°C 。
  • 零栅压漏极电流IDSS:VDS = -24 V,VGS = 0 V时,TA = 25°C为 -1 µA,TJ = 55°C为 -10 µA 。
  • 栅体正向泄漏电流IGSSF:VGS = 20 V,VDS = 0 V时为 100 nA 。
  • 栅体反向泄漏电流IGSSR:VGS = -20 V,VDS = 0 V时为 -100 nA 。

2. 导通特性

  • 栅极阈值电压VGS(th):VDS = VGS,ID = -250 µA时,最小值为 -1 V,典型值为 -1.7 V,最大值为 -3 V 。
  • 栅极阈值电压温度系数∆VGS(th)/∆TJ:ID = 250 µA,参考25 °C时为 4 mV/°C 。
  • 静态漏源导通电阻RDS(ON):VGS = -10 V,ID = -6 A时,典型值为 0.032 Ω;TJ =125°C时,典型值为 0.051 Ω;VGS = -4.5 V,ID = -5 A时,典型值为 0.045 Ω 。
  • 导通状态漏极电流ID(ON):VGS = -10 V,VDS = -5 V时为 -20 A 。
  • 正向跨导gFS:VDS = -10 V,ID = -6 A时为 16 S 。

3. 动态特性

  • 输入电容Ciss:VDS = -15 V,VGS = 0 V,f = 1.0 MHz时为 1540 pF 。
  • 输出电容Coss:400 pF 。
  • 反向传输电容Crss:170 pF 。

4. 开关特性

  • 导通延迟时间tD(on):VDS = -15 V,ID = -1 A时,典型值为 24 ns 。
  • 导通上升时间tr:VGEN = -10 V,RGEN = 6 Ω时,典型值为 35 ns 。
  • 关断延迟时间tD(off):典型值为 75 ns 。
  • 关断下降时间tf:典型值为 30 ns 。
  • 总栅极电荷Qg:VDS = -10 V,ID = -6 A时,典型值为 14.5 nC 。
  • 栅源电荷Qgs:VGS = -5 V时为 4 nC 。
  • 栅漏电荷Qgd:5 nC 。

5. 漏源二极管特性和最大额定值

  • 最大连续漏源二极管正向电流IS:-1.3 A 。
  • 漏源二极管正向电压VSD:VGS = 0 V,IS = -1.3 A时,典型值为 -0.73 V 。

三、典型电气特性曲线

文档中还给出了一系列典型电气特性曲线,包括导通区域特性、导通电阻随漏极电流和栅极电压的变化、导通电阻随温度的变化、转移特性、体二极管正向电压随源极电流和温度的变化等。这些曲线能够帮助工程师更直观地了解该MOSFET在不同条件下的性能表现。

四、注意事项

(一)热阻说明

RθJA是结到外壳和外壳到环境热阻之和,其中外壳热参考定义为漏极引脚的焊接安装表面。RθJC由设计保证,而RθCA由用户的电路板设计决定。

(二)脉冲测试条件

脉冲测试要求脉冲宽度 < 300µs,占空比 < 2.0% 。

(三)使用限制

该产品不适合用于生命支持系统、FDA 3类医疗设备或具有相同或类似分类的外国医疗设备,以及任何用于人体植入的设备。如果买家将其用于此类非预期或未经授权的应用,需承担相应责任。

五、总结

FDS6975双P沟道逻辑电平PowerTrench MOSFET凭借其低导通电阻、低栅极电荷和高功率电流处理能力等优势,在笔记本电脑等相关应用中具有很大的应用潜力。电子工程师在设计电路时,需要根据具体的应用需求,结合其各项参数和特性,合理选择和使用该产品。同时,一定要注意其使用限制和测试条件,以确保电路的稳定性和可靠性。大家在实际应用中是否遇到过类似MOSFET的选型和使用问题呢?欢迎在评论区分享交流。

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