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最新嵌入式系统数字逻辑测试解决方案

消耗积分:5 | 格式:rar | 大小:344 | 2010-12-17

王尚岱

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最新嵌入式系统数字逻辑测试解决方案:TLA6000系列逻辑分析仪。

嵌入式系统技术、市场发展趋势
基于TLA6000的模拟、数字联合测试系统
动态FPGA内部信号完整性测试方案
可定制的嵌入式软件、协议调试方案
TLA6000产品介绍

逻辑分析仪原理回顾
 逻辑分析仪能够...
– 同时观测许多路信号（例如32
位数据，8位A/D）
– 以数字电路的运行的方式观
测信号,“看到”数字电路的真
实运行情况
– 能够逻辑组合触发，序列触发
来精确定位系统的运行情况
– 实时跟踪微处理器的代码流
– 捕获间歇性系统故障
– 系统崩溃的原因跟踪

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