×

基于LFSR优化的BIST低功耗设计

消耗积分:0 | 格式:rar | 大小:656 | 2010-12-23

wangzhijia

分享资料个

在BIST（内建自测试）过程中，线性反馈移位寄存器作为测试矢量生成器，为保障故障覆盖率，会产生很长的测试矢量，从而消耗了大量功耗。在分析BIST结构和功耗模型的基础上，针对test-per-scan和test-per-clock两大BIST类型，介绍了几种基于LFSR（线性反馈移位寄存器）优化的低功耗BIST测试方法，设计和改进可测性设计电路，研究合理的测试策略和测试矢量生成技术，实现测试低功耗要求。
Abstract:
 During the BIST testing,LFSR as the TPG give very long test pattern for guaranteeing the fault coverage which due to a lot of power consumption.After analyzing the BIST structure and power loss model, the paper makes research on the al-gorithm and realization of lower power BIST on base of optimized LFSR aiming at two kinds of BIST architecture: the test-per-clock and test-per-scan. In order to meet testing lower power,the design methods for low power BIST circuit and reason-able test strategy are studied.
下载并关注上传者 低至0.43元/天 开通VIP 免费下载

声明：本文内容及配图由入驻作者撰写或者入驻合作网站授权转载。文章观点仅代表作者本人，不代表电子发烧友网立场。文章及其配图仅供工程师学习之用，如有内容侵权或者其他违规问题，请联系本站处理。 举报投诉

评论(0)
发评论

下载排行榜

全部0条评论

快来发表一下你的评论吧 !