UI300系列MEMS芯片测试系统是由联合仪器推出的基于PXI架构的针对MEMS传感器的高度集成自动测试系统解决方案。该系统可以通过专用的硬件配合测试软件对MEMS传感器进行一系列的DC参数测试和功能测试。广泛应用与MEMS传感器开发与调试、生产与下线检测。为了方便用户适用，联合仪器可以提供系统级API接口，用户可以根据实际需求进行二次开发。
MEMS芯片测试系统
型号:
UI300系列MEMS传感器测试机