应用
6430的功能使其同样适于在测试实 验室的研究工作和复杂元件的评估，结 合其它源测量仪器或SMU用于在较高电平 上进行低电流、高电阻或高灵敏度的半 导体测量。6430的低噪声和漂移性能也非 常适合高阻性纳米线和其它高阻纳米材 料的研究。
高速数据处理
6430能以超过2000个读数/秒的速度 读至其内存缓冲器。IEEE-488总线输出能 每秒发送达75个源/测量读数至外部计算 机控制器，包括通过/失效指示。
6430能提供达2.2W的4象限源， 以及低至亚fA和微伏电平的测量 灵敏度。在高达20V，它能测量从 1pA量程（仅0.4fA峰峰值噪声）至 100mA量程的电流。可提供200mV至 200V的电压范围。电流和电压量程 设置定义了源或阱电压或电流的 最大值。
典型应用：
半导体测量
基于FET元件中的栅 极漏电或沟道漏电会在 MOSFET、FET、模拟开关和许 多其它电路中产生误差。通 过允许研究人员测量极低电 平的电流和电压，6430能帮 助他们了解这些元件的设计 局限以及研究替代器件的结 构或材料。
SET研究
6430具有的优秀低电流测量能力（<0.4fA峰峰值）使其对于单电子晶体管 （SET）和量子点研究非常有用。使用类似于锁定的技术，6430能以1aA灵敏度测量 电流（10–18A=6电子/秒）。
测量行业的最低噪声和漂移
下图的数据表明6430在5小时期间内稳定性非常突出，而且短期的低噪声性能 优秀。使用6430的AUTOFILTER以5秒上升时间在1pA量程上实现微弱信号采集。插 图中的细节是滤波信号的截图，显示了6430型在最开始的100秒期间的低噪声性能 （仅200aA峰峰值）。在温度变化约1°C的实验室环境下提取数据，其中6430的IN/ OUT HI和SENSE引线接防护罩