斯坦福研究系统SR785双通道动态信号分析仪是一款精密、全功能信号分析仪，提供一流的性能，而价格不到竞争分析仪的一半。SR785以其前身SR780为基础，集成了新的固件和硬件，是分析机械和电气系统的理想仪器。对于涉及伺服系统、控制系统、声学、振动测试、模态分析或机械诊断的测量，斯坦福研究系统SR785具有完成工作所需的特性和规格。
标准测量组包括FFT、顺序跟踪、倍频程、正弦扫频、相关、时间捕获和时间/直方图。斯坦福研究系统SR785为您的应用带来了多种仪器的强大功能:频谱分析仪、网络分析仪、振动分析仪、倍频程分析仪和示波器。
独特的测量架构使斯坦福研究系统SR785能够作为典型的双通道分析仪，进行交叉谱、频率响应、相干性等测量。或者，可以配置仪器，使每个输入通道作为单通道分析仪，具有自己的跨度、中心频率、分辨率和平均值。这使您可以查看宽带光谱，同时放大光谱细节。相同的高级架构提供所有测量构建模块和平均模式的存储。所有测量的矢量平均、均方根平均、非平均和峰值保持版本可同时采集并显示，无需重新采集数据。
- 特征
- DC至102.4 kHz带宽
- 90 dB动态范围
- 正弦扫频模式下145 dB动态范围
- 订单跟踪
- 20极点/20零点曲线拟合
- 实时倍频程分析
- 高达32 MB的内存
- GPIB和RS-232接口