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1464ABC合成扫频信号发生器思仪-中电41所
产品综述
1464在250kHz～67GHz的频率范围内具备优异的边带相位噪声。其出色的频谱纯度、超宽频率覆盖、高精度模拟扫频、大动态范围高精度功率输出，可满足您各种测试中对信号发生器的苛刻需求。内部标配双通道内调制发生器和复杂脉冲发生器，可为您提供性能优异的AM、FM、?M调制功能以及脉冲调制能力，省去了面对众多选项而难以抉择的烦恼。该信号发生器采用系列化设计，有四种型号可供您选择，满足您的不同需求，分别为1464 250kHz～67GHz、1464A 250kHz～20GHz、1464B 250kHz～40GHz和1464C 250kHz～50GHz。该产品采用中/英文操作界面，TFT大屏幕真彩液晶显示，适合国内外用户的需求，既是理想的本振源和时钟源，也是高性能的合成扫源，还可产生高质量模拟仿真信号。主要用于电子系统性能综合评估、高性能接收机测试和元器件参数测试等方面，适用于航空、航天、雷达、通信以及导航设备等众多领域。
1464ABC合成扫频信号发生器 思仪 中电41所 功能特点
超宽的频率覆盖
极其纯净的信号质量
67GHz带宽内的大动态范围高精度功率输出
高精度模拟扫频输出
标配内部调制信号发生器和脉冲发生器
优异的宽带DCFM，DC?M功能
高精度线性AM和指数AM
高性能脉冲调制
110GHz倍频源模块扩频
支持组建自动标量网络分析系统
中/英文操作界面，TFT大屏幕真彩液晶显示
步进、列表、功率扫描
U盘自动软件升级
极其纯净的信号质量
1464系列合成扫频信号发生器可为您在67GHz的带宽内提供高质量的测试信号，优异的边带相位噪声，出色的谐波、杂散性能，可满足雷达系统开发、卫星通信中对纯净激励信号的测试需要。
大动态范围高精度功率输出
1464系列合成扫频信号发生器通过内置程控步进衰减器，在宽达67GHz的频率范围内可提供大动态范围高精度信号输出，以满足您的测试需要。
高精度模拟扫频
全频段高精度模拟扫频功能，满足您宽带测试中对快速扫频的需要。
内部调制信号发生器和脉冲发生器（标配）
标配双通道内部调制信号发生器，采用直接数字波形合成技术产生高质量调制信号，频率范围DC-1MHz，分辨率0.1Hz，调制波形多达7种，为您提供了全面的信号模拟能力。
标配内部脉冲发生器，共有6种脉冲方式可选，脉冲宽度可在40ns～42s间任意设置，步进10ns，脉冲开关比大于80dB，满足您对高性能脉冲源的测试需求。
优异的模拟调制（标配）
1464系列标配有优异的模拟调制能力，具有AM、FM、?M功能，支持内、外调制源输入。优异的DCFM能力，调制率宽达DC～10MHz。优异的DC?M能力，调制率宽达DC～1MHz。具有线性AM和指数AM两种工作模式，线性调幅深度大于90%。为您进行高质量模拟信号发生提供了全面的解决手段。
高性能脉冲调制（标配）
1464系列标配有高性能的脉冲调制功能，在输出频率大于500MHz时，调制深度>80dB，调制速度<20ns，小脉宽100ns，支持门控、外部等多种触发方式，具有双脉冲输出能力，为您进行雷达脉冲信号模拟提供了灵活方便的解决手段。
倍频源模块扩频
1464系列合成信号发生器标配有倍频源模块接口，可外加中国电科41所波导系列倍频源模块将输出频率扩频到毫米波频段，为您提供了一个简便、快捷、低成本的高质量毫米波信号产生方案。
自动标量网络测试系统组建
与36110标量网络分析仪可轻松组建自动标量网络测试系统，为您轻松搭建快捷宽带网络测试之路。
中/英文操作界面，TFT大屏幕真彩液晶显示
1464系列合成信号发生器为全自主设计软件，采用大屏幕、中文操作界面，当前状态信息尽收眼底。操作界面也可根据不同用途及场合设置为英文，方便您的使用。
U盘自动软件升级
1464系列合成扫频信号发生器提供了可用于软件智能升级及数据备份的USB接口，您可以方便地利用U盘对仪器进行软件升级及维护，简单快捷。
丰富的程控接口
1464系列合成扫频信号发生器提供了RS232接口、GPIB接口、网络口等附加扩展接口，任您自由选择，以便方便地实现远程控制及网络升级功能。
典型应用
电子系统性能综合评估
作为具备业界性能的合成扫频信号发生器产品，1464可在250kHz～67GHz的频率范围产生大动态范围高质量模拟仿真信号，用于雷达、电子战、通信装备等电子系统综合性能评估中，解决带宽、灵敏度、动态范围、交调失真等系统指标测试问题。
高性能接收机测试
1464系列合成扫频信号发生器具有大的输出动态范围和极高的频率稳定度，频率分辨率0.001Hz，可输出高精度标准测试信号，用于雷达、电子战、通信装备中的高性能接收机性能测试中，解决灵敏度、动态范围、通道选择性等指标测试问题。
本振替代
1464系列合成扫频信号发生器具有极其纯净的信号质量，可做为理想的本振源替代发射机、接收机等被测设备中的本振，有效避免本振质量不好对测试带来的面影响，从而保证您的测试精度和可信性。