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PID效应与电势诱导衰减PID浅析

消耗积分:0 | 格式:rar | 大小:0.1 MB | 2017-10-25

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　　PID效应是一种在组件上面加上高强度负电压而使组件性能降低的现象。在过去的几十年里，由于系统偏压而引起组件功率大幅衰减，有的衰减甚至超过50%， 而从组件外观上却看不到任何缺陷。传统晶硅组件的认证是根据IEC61215 和IEC 61730标准来进行测试，而在这标准之中缺少了对组件长期可靠性评估的相关要求。德国肖特太阳能、德国Q-CELL公司、SOLON公司等均宣布称其组 件通过PID测试，其组件属于抗PID型。

　　所谓PID测试，将组件连接到1000伏特的电压上，在一定的温度和湿度条件下，连续通电一定的时间，最后监测组件的前后功率的衰减和EL。

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