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CCD（Charge-Coupled-Device）因具备高灵敏性的特点广泛应用于民用和军事领域，然而，CCD极易受强光的影响，因此，研究强光对CCD的辐照效应对于很多实际工作有重要参考价值。本文采用实验研究与理论分析相结合的方法，分析了宽光谱光源（超连续谱光源和太阳光）与532nm连续激光辐照可见光面阵 CCD的干扰效应，获取了相关阀值数据，并对实验得到的数据进行数值拟合，验证了饱和像元数随光功率密度变化的经验公式。本文主要工作如下：
1、超连续谱光源辐照可见光面阵CCD。通过实验获得了面阵CCD的光斑饱和图像、串扰图像以及过饱和图像。实验结果表明：当可见光面阵CCD相机入瞳处光功率密度为1.3×1010W/cm2，2.4×101w/cm2，6.9×103w/cm2，1.2×102w/cm2时，可见光面阵CCD图像分别出现局域饱和、串扰、过饱和以及暂时致盲现象。
2、太阳光辐照可见光面阵CCD。根据实验数据计算得到太阳光辐照下面阵CCD的串扰阀值范围和暂时致盲阀值范围。
3、532nm连续激光辐照可见光面阵CCD。
①通过实验获得了面阵CCD的光斑饱和图像、串扰图像以及过饱和图像；根据实验数据计算得到面阵CCD相机入瞳处激光功率密度为3.4×101lw/cm2，2.2×105w/cm2，1.3×103w/cm2时，可见光面阵CCD图像分别出现像元饱和、串扰以及过饱和现象。
②使用相同光斑尺寸的532nm连续激光与超连续谱光源分别辐照可见光面阵CCD，根据实验数据计算得到面阵CCD光敏面饱和阀值和光敏面单个像元饱和阀值，并对阀值结果进行了比较。③实验研究了532nm连续激光不同入射条件对可见光面阵CCD干扰效果的影响，结果表明：适当改变入射条件，可使得辐照光对面阵CCD的干扰效果优于光束准平行入射下的干扰效果。
4.对超连续谱光源和532mm连续激光辐照可见光面阵CCD的实验数据进行了数值拟合，验证了饱和像元数随光功率密度变化的经验公式：lg（N）=Axlg（D+B。
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