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如何在射频产品设计中将仿真与测量相结合
张敏
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缩短产品开发周期一直以来都是研发机构的主要目标。减少开发时间的方法之一是将设计和测试工作同步进行——即通常遵循 V型图产品开发模式。这种方法已经应用于汽车业和航空业。在这些行业中，最终的产品是一个高度复杂的“由系统组成的系统”，V型图的左侧是设计，右侧代表的是测试/验证（如图1所示）。V型图真正的含义是指在整个系统开发完成之前，即开始对子系统进行测试和验证，从而实现更高的效率。
哪些子系统可以独立于整个系统进行测试。并行设计和测试的方法，例如V型图方法，在具有高度管制环境的行业中已经得到了普遍应用，而且这些方法在其它行业以及其它类型的设备中的使用也在不断增加。例如，在半导体和消费电子行业，更短的产品生命周期和日益复杂的产品复杂性迫使企业不断地减少产品开发时间。根据2009年 McKinsey公司对半导体IC设计过程的调查，半导体行业的产品生命周期与产品开发类型的比例大约是汽车行业的三分一。McKinsey公司的此项调查还估算出一个新半导体设计的平均开发时间大约是19个月。因此，他们认为企业的研发能力是一个关键区分因素。由于在产品开发过程中提高研发能力是企业的当务之急，并行设计和测试的理念已经遍及整个电子行业。实行这一目标的一个关键方法是增加电子设计自动化（EDA）仿真软件和测试软件间的连通性，并一直贯彻至组件级。
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