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用全扫描结构(FULL SCAN METHOD)来实现数字电路
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2021-03-26
姚小熊27
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文主要探讨了用全扫描结构（FULL SCAN METHOD）来实现数字电路可测性设计（DESIGN FOR TEST）的原理与方法。其中涉及到扫描结构（SCAN）的算法依据、电路的基本结构、测试矢量的生成（ATPG）以及测试的时序等诸多问题。并结合最常用的综合工具 SYNOPSYS 中的 DFT COMPILER 部分，深入描述了为一数字电路芯片加入扫描部分和产生测试矢量集的具体流程。扫描结构对数字电路的结构有一些限制，为了避免违反这些限制，文中罗列了所谓的设计规范，并详细介绍了如何对违反这些设计规范的电路进行修改和处理的方法。
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