×

MM32F013x——IEC60730-1 B类认证软件设计指南(三)

消耗积分:2 | 格式:pdf | 大小:230.97KB | 2022-01-25

分享资料个

检测时由于需要执行软件算法(March-C),会影响CPU的利用率,所以SRAM测试采用拓扑模式,按位阵列推进测试,阵列中的逻辑邻位(属于单字...

声明:本文内容及配图由入驻作者撰写或者入驻合作网站授权转载。文章观点仅代表作者本人,不代表电子发烧友网立场。文章及其配图仅供工程师学习之用,如有内容侵权或者其他违规问题,请联系本站处理。 举报投诉

评论(0)
发评论

下载排行榜

全部0条评论

快来发表一下你的评论吧 !