资料下载
×
连接用户设备和 DST1E1DK SCT 设计套件
消耗积分:0 |
格式:pdf |
大小:102.51KB |
2022-11-18
学电超人
分享资料个
描述描述本应用笔记旨在说明如何将用户定义的被测设备 (DUT) 或开发板与 DST1E1DK SCT 设计套件连接起来。DST1E1DK 开发板由 Dallas Semiconductor 设计，用于方便 Dallas Semiconductor 单芯片收发器 (SCT) 的用户测试和原型设计。这些板具有一个基于 8051 处理器的微控制器、板载 EPROM、一个用于测试不同 Dallas Semiconductor SCT 的插座，以及一个 DS2172 误码率测试仪 (BERT)。除了这些功能之外，该板还提供原型设计区域和扩展端口。本应用笔记的重点是展示如何使用扩展端口来扩展开发板的功能，以包括测试用户定义的设备或完整的板，从而为用户提供几乎无限的测试灵活性。本应用笔记旨在说明如何将用户定义的被测设备 (DUT) 或开发板与 DST1E1DK SCT 设计套件连接起来。DST1E1DK 开发板由 Dallas Semiconductor 设计，用于方便 Dallas Semiconductor 单芯片收发器 (SCT) 的用户测试和原型设计。这些板具有一个基于 8051 处理器的微控制器、板载 EPROM、一个用于测试不同 Dallas Semiconductor SCT 的插座，以及一个 DS2172 误码率测试仪 (BERT)。除了这些功能之外，该板还提供原型设计区域和扩展端口。本应用笔记的重点是展示如何使用扩展端口来扩展开发板的功能，以包括测试用户定义的设备或完整的板，从而为用户提供几乎无限的测试灵活性。扩展端口定义扩展端口定义DST1E1DK 板上有两个标有 J7 和 J10 的扩展端口。本应用笔记的重点是 J7。扩展端口 J7 使用户可以访问 8 位微处理器多路复用地址/数据总线、另外四个最高有效地址位、地址锁存使能 (ALE)、微处理器读写信号（低电平有效 RD 和低电平有效WR ，分别），六个不同的片选，和四个独立的中断。此外，它还提供对 5V、3.3V 和接地层的访问。扩展端口 J7 的引出线DST1E1DK 板上有两个标有 J7 和 J10 的扩展端口。本应用笔记的重点是 J7。扩展端口 J7 使用户可以访问 8 位微处理器多路复用地址/数据总线、另外四个最高有效地址位、地址锁存使能 (ALE)、微处理器读写信号（低电平有效 RD 和低电平有效WR ，分别），六个不同的片选，和四个独立的中断。此外，它还提供对 5V、3.3V 和接地层的访问。扩展端口 J7 的引出线如图 1如图 1所示。所示。对于大多数用户应用程序，微处理器总线访问将是必要的。例如，如果用户希望对 DUT 或目标板中的寄存器进行读写访问，则可以通过该总线完成该访问。如果需要单独的地址和数据线，可以使用锁存器（例如 74HC373）很容易地对多路复用总线进行多路分解。示例图对于大多数用户应用程序，微处理器总线访问将是必要的。例如，如果用户希望对 DUT 或目标板中的寄存器进行读写访问，则可以通过该总线完成该访问。如果需要单独的地址和数据线，可以使用锁存器（例如 74HC373）很容易地对多路复用总线进行多路分解。示例图如图 2如图 2所示。
声明：本文内容及配图由入驻作者撰写或者入驻合作网站授权转载。文章观点仅代表作者本人，不代表电子发烧友网立场。文章及其配图仅供工程师学习之用，如有内容侵权或者其他违规问题，请联系本站处理。 举报投诉
评论(0)
发评论
- 相关下载
- 相关文章
