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VLSI测试综述

消耗积分:0 | 格式:pdf | 大小:338 KB | 2011-05-28

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本文在综述基本的VLSI测试方法和可测试性设计技术的基础上，对基于核的片上系统的可测试性设计和测试方法进行简单介绍。最后，通过分析集成电路设计和制造工艺的发展给测试带来的影响，展望VLSI/SOC测试技术的发展方向。

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