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VLSI测试与可测试性设计的学习课件资料合集
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2020-10-07
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VLSI测试与可测试性设计的学习课件资料合集
VLSI测试技术导论， 可测试性设计， 逻辑与故障模拟，测试生成，逻辑自测试，测试压缩，逻辑电路故障诊断，存储器测试与BIST，存储器诊断与BISR，边界扫描与SOC测试，纳米电路测试技术，复习及习题
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