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针对RSA-CRT数字签名的光故障攻击研究

消耗积分:1 | 格式:pdf | 大小:798KB | 2015-08-26

张瑾

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通过研究密码芯片SRAM存储单元构造，利用激光改变进行运算的SRAM存储单元的逻辑状态，分析光注入对SRAM存储单元的影响。以Montgomery乘的 RSA-CRT数字签名算法为攻击对象，分析其算法的实现过程和故障注入机理。针对密码芯片实现的8位RSA-CRT签名算法，使用半导体激光作为注入光源，搭建光注入实验平台，在计算Sq时刻进行故障注入，从而得到故障签名。
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