背向散射法也是一种非破坏性的测试方法。测试只需在光纤的一端进行,而且一般有较好的重复性。更由于这种方法不仅可以测量光纤的衰减系数,还能提供沿光纤长度损耗特性的详细情况,其中包括检测光纤的缺陷或断裂点位冒、接头的损耗和位置等,也可给出光纤的长度,所以这种方法对实验研究、光纤制造和工程现场都很有用。利用这种方法做成的测量仪器,叫做光时域反射计(optical time—domain reflectometer),简称 OTDR。
背向散射法是将大功率的窄脉冲注入被测光纤,然后在同一端检测沿光纤背向返回的散射光功率。因为主要的散射机理是瑞利散射,瑞利散射光的特征是它的波长与入射光波的波长相同,光功率与该点的入射光功率成正比,所以测量沿光纤返回的背向瑞利散射光功率就可以获得光沿光纤传输时损耗的信息,从而可以测得光纤的衰减.故称此方法为背向散射法。其简单原理框图如图3 所示。
图3
声明:本文内容及配图由入驻作者撰写或者入驻合作网站授权转载。文章观点仅代表作者本人,不代表电子发烧友网立场。文章及其配图仅供工程师学习之用,如有内容侵权或者其他违规问题,请联系本站处理。 举报投诉
全部0条评论
快来发表一下你的评论吧 !