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测试接口原理与电源芯片应用案例
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2009-12-19
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基于对IC 测试接口原理和系统结构的阐释，具体针对型号为SL431L 的电源芯片，提出改进测试电路的方法，电压测试值的波动范围小于3mV。
关键词:测试系统结构，测试接口，芯片测试
Abstract: Based on the principals of IC test interface and the structures of test systerm, methods of improving test circuits on type SL431L power IC is proposed. The change rang of measurement results be within 3mV.
Key words: test system structure, test interface, IC test
关键词:测试系统结构，测试接口，芯片测试
Abstract: Based on the principals of IC test interface and the structures of test systerm, methods of improving test circuits on type SL431L power IC is proposed. The change rang of measurement results be within 3mV.
Key words: test system structure, test interface, IC test
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