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集成电路的测试与封装

消耗积分:0 | 格式:rar | 大小:3.60 MB | 2021-04-08

姚小熊27

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　　功能测试是针对制造过程中可能引起电路功能不正确而进行的测试，与设计错误相比，这种错误的出现具有随机性，测试的主要目的不是定位和分析错误．而是判断芯片上是否存在错误，即区分合格的芯片与不合格的芯片。

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