资料下载
×
关于MSP430单片机的晶化监控系统设计与实现方案
消耗积分:0 |
格式:rar |
大小:0.88 MB |
2018-05-03
分享资料个
针对非晶材料晶化过程的电特性, 提出了晶化温度控制和电阻率测试的总体设计方案,介绍了监控系统硬件和软件设计, 并具体设计了以 MSP430单片机为核心的智能温度控制和电阻率测试装置。试验结果表明该系统既提高了控制精度和可靠性, 降低了开发成本, 又能准确及时地实现非晶材料晶化过程电特性的在线动态研究。
声明：本文内容及配图由入驻作者撰写或者入驻合作网站授权转载。文章观点仅代表作者本人，不代表电子发烧友网立场。文章及其配图仅供工程师学习之用，如有内容侵权或者其他违规问题，请联系本站处理。 举报投诉
评论(0)
发评论
- 相关下载
- 相关文章
