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大规模集成电路单粒子闭锁辐射效应测试系统

消耗积分:3 | 格式:rar | 大小:361 | 2010-05-30

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摘要：根据CMOS器件单粒子闭锁机理，以CMOS存储器和80C86微处理器为对象，研制了单粒子闭锁辐射效应测试系统，并进行了初步的实验验证。实验结果表明，应用程序界面友好，使用方便，可用于多种辐射源下半导体器件单粒子闭锁效应的测试。
关键词：单粒子闭锁；CMOS存储器；80C86微处理器
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