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影响偏振相关损耗PDL测量的重要因素详细资料说明
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2019-02-27
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偏振相关损耗（PDL）的测量对测量系统中的扰动极其敏感，这些扰动包括光源的不稳定性，连接器的反射，甚至是测试光纤的布局。如果测试装置布置不合理，即使采用高精度的测量设备也可能会出现较大的测量误差或波动。该说明书描述了精确测量 PDL 的通常注意事项，以及减少使用 General Photonics 公司 PDL 测试仪 （PDL-101）测量误差的方法。
其中 Pmax 和 Pmin 分别为当被测器件（DUT）输入光的偏振态在所有可能的偏振态间扫描时，通过 DUT 的最大和最小输出功率，如图 1 所示。
在测量中可能会引入一些可能的误差和不确定性，这包括：
1. 由光源波动产生的误差公式 （1）表明，如果光源的功率随时间变化，测量得到的功率最大和最小值也会随之变化，从而导致测量的不准确。因此，用于 PDL 测量的光源必须具有很高的稳定性。
即使光源本身非常稳定，测量系统中不同位置的微弱反射可能会反馈回激光器，干扰激光器的工作并导致输出的不稳定。因此，即使光源的输出端可能已经有了隔离器，我们仍强烈建议在 PDL 测量仪器的输入端加上隔离器，以减少反射。另外，为了减少连接器的反射，在光源与 PDL 测试仪之间的所有连接器都应该使用 APC 接头。
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