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以智财单元为基系统晶片设计之测试技术研究

消耗积分:3 | 格式:rar | 大小:36 | 2010-09-03

张杰

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本計畫是在“以智財單元為基系統晶
片設計之驗證與測試技術開發研究”總計
畫項下之一子計畫，目的是研究有關以智
財單元為基之系統晶片於深次微米情況下
之測試諸問題。
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