前言
二次元测量检测仪器设备Z 轴增加测头或激光位移传感器等设备后还可对 3D 图形元素如圆柱、圆锥、圆球、以及三维空间内的面进行测量。根据元素的实际特征，每种元素可采用多种不同的方法测量。寻边结束即可直接获取出元素的坐标值、长度、面积、体积等数据。
一、产品描述
1.产品特性
二次元测量检测仪器设备Z 轴增加测头或激光位移传感器等设备后还可对 3D 图形元素如圆柱、圆锥、圆球、以及三维空间内的面进行测量。根据元素的实际特征，每种元素可采用多种不同的方法测量。寻边结束即可直接获取出元素的坐标值、长度、面积、体积等数据。
2.技术规格
规格型号 | TOCK-432PT-H |
量测范围（XYZ） | 400X300X200 |
重量 | 280KG |
承重 | 30KG |
传动方式 | V导轨+光轴 |
平台、底座材质 | 高精度花岗岩00级（山东济南青） |
XY 精度 | （3+L/200）μm |
光栅尺分辨率 | XYZ：0.5μm |
镜头 | 4K高清镜头 |
镜头倍率 | 光学放大倍率：0.7X-4.5X |
CCD影像 | 1/1.8靶面尺寸 200万像素彩色CCD |
光源 | LED白色近平行光+上光源 （软件和手动两种控制方式） |
量测软件 | INS-M |
二、支持镜头畸变补偿，有效降低因镜头畸变带来的测量误差
- 将传统像素校准、中心补偿与畸变校准算法集成在一起，可一键解决标定问题
- 支持移动式工作机台拼接测量，并提供多种补偿方式，提升机台精度与稳定性
- 寻边和过滤算法，大幅提升边缘抓取的稳定性
- 亚像素算法，显著提升边缘精准度与重复性
- 深入优化的定位与补偿算法，极大缩短绝对测量时间，真正实现闪测效果
- 根据不同用户偏好，支持多种数据结果呈现格式
- 特征匹配算法，支持复杂特征匹配与多工件测量
- 支持按比例保存拼接后的捕获的源图，源图可供客户其它分析使用