FCC-TEM-JM5/FCC-TEM-JM7C
产品介绍(深圳华瑞高)
符合标准：
IEC 61967-2
SAE 1752-3
IEC 62132-8
VSWR波形图：
FCC/horigol的TEM小室主要用于以下几种测试[^0^]：辐射发射测试•
原理：TEM小室能够模拟电磁环境，将被测设备（EUT）放置在小室内，通过测量其在不同频率下的电磁辐射水平，评估设备的电磁干扰（EMI）情况[^2^]。
• 应用场景：适用于小尺寸PCB或集成电路芯片的EMI-RE辐射发射测试，可帮助确定产品在实际使用中是否会对其它设备产生电磁干扰[^3^]。
辐射抗扰度测试• 原理：通过在TEM小室内产生特定强度和频率范围的电磁场，模拟设备在实际使用中可能遇到的电磁干扰环境，测试被测设备在该环境下的工作性能，评估其抗电磁干扰的能力[^4^]。
• 应用场景：可用于测试集成电路、小型电子设备等的EMS-RS辐射抗扰度，例如，FCC-TEM-JM5只需要小于3.7mW的输入功率就能达到10V/m的电场，37W就能达到1000V/m的电场[^5^]。
EMI故障排除• 原理：利用TEM小室的屏蔽环境和精确的测量能力，对被测设备进行详细的电磁干扰分析，找出设备中可能存在的电磁干扰源和薄弱环节[^6^]。
• 应用场景：在产品研发和调试阶段，通过TEM小室测试，可以快速定位和解决电磁兼容性问题，优化产品设计[^7^]。其他应用TEM小室还可用于评估PCB板级的电磁屏蔽效能[^8^]。