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广立微助力2024中国研究生创“芯”大赛·EDA精英挑战赛
广立微正式发布DE-YMS 2.0版本
广立微轻量级DE-YMS Lite方案多维度提升良率管理
广立微AI/ML技术迎来爆发式成长
广立微INF-AI助力格科微产品良率提升
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广立微参与起草的《技术文档的用户体验评估规范》正式发布
广立微DE-YMS助力灵动微电子挖掘MCU车规级芯片良率数据价值
依托广立微建设的浙江省集成电路EDA技术重点企业研究院正式挂牌
广立微推出一款T4000 Max 100pin多通道并行参数测试机
DATAEXP助力坤锐电子解锁RFID芯片良率数据价值
广立微YMS系统荣获2023年度卓胜微最佳贡献奖
广立微携手战略伙伴为RISC-V IP提升DFT可测试性设计
广立微推出晶圆级可靠性测试设备
广立微发布业界领先的可测性设计自动化和良率诊断解决方案
广立微首款EDA工具满足芯片设计公司和晶圆制造厂的需求
如何实现CMP步骤的仿真？广立微重磅发布CMPEXP建模工具
广立微即将携全线产品精彩亮相首届IDAS设计自动化产业峰会
广立微推出新一代通用型高性能半导体参数测试系统T4000
