资料下载
×
PLL相关的两个关键技术规格详细说明
消耗积分:3 |
格式:pdf |
大小:0.26 MB |
2020-11-26
刘润生
分享资料个
我们将侧重于详细考察与 PLL 相关的两个关 键技术规格：相位噪声和参考杂散。导致相位噪声和参考杂 散的原因是什么，如何将其影响降至最低？讨论将涉及测量 技术以及这些误差对系统性能的影响。我们还将考虑输出漏 电流，举例说明其在开环调制方案中的重要意义。
振荡器系统中的噪声
在任何振荡器设计中，频率稳定性都至关重要。我们需要考 虑长期和短期稳定性。长期频率稳定性是关于输出信号在较 长时间（几小时、几天或几个月）内的变化情况。其通常以一 定时间内的比率 f/f 来规定，单位为百分比或 dB。
信号源中的已知时钟频率、电力线干扰和混频器产品都可能 引起离散杂散成分。随机噪声波动引起的扩张是相位噪声造 成的。其可能是有源和无源器件中的热噪声、散粒噪声和 / 或 闪烁噪声造成的。
电压控制振荡器中的相位噪声
在考察 PLL 系统中的相位噪声之前，我们先看看电压控制振荡器（VCO）中的相位噪声。理想的 VCO 应该没有相位噪声。 在频谱分析仪上看到的输出应是一条谱线。当然，事实并 非如此。输出上会有抖动，频谱分析仪会显示出相位噪 声。为了便于理解相位噪声，请考虑一种相量表示方式， 如图 2 所示。
声明：本文内容及配图由入驻作者撰写或者入驻合作网站授权转载。文章观点仅代表作者本人，不代表电子发烧友网立场。文章及其配图仅供工程师学习之用，如有内容侵权或者其他违规问题，请联系本站处理。 举报投诉
评论(0)
发评论
- 相关下载
- 相关文章
