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如何保证IC流程中的设计和制造的正确性
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2021-03-26
姚小熊27
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随着设备和互连的技术特征尺寸以预期的速度缩小根据摩尔定律，单个集成芯片上的栅极密度和设计复杂性（IC）在最近几十年中一直在增长。 接近纳米级的制造工艺引入更多的制造错误
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