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IDDQ测试技术及实现

消耗积分:0 | 格式:pdf | 大小:211 KB | 2011-05-20

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IDDQ (即静态电源电流) 测试是近几年来国外比较流行的CMOS 集成电路测试技术。IDDQ 测试能够检测出传统的固定值故障电压测试(即SAF 功能测试) 所无法检测的CMOS 集成电路内部的缺陷(如氧化层短路, 穿通等) , 所以, 能够明显提高CMOS 集成电路的使用可靠性。本文叙述了IDDQ 测试的基本原理和IDDQ 测试在集成电路测试系统上的实现方法及测试实例。
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