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芯片IDDQ测试的详细资料说明

消耗积分:2 | 格式:pdf | 大小:2.50 MB | 2020-11-30

shenchu123

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本文档的主要内容详细介绍的是芯片IDDQ测试的详细资料说明包括了:•为什么需要IDDQ的测试? •IDDQ测试原理 •IDDQ测试应用与结构

       • Stuck-at故障,是基于状态的structural测试,关注状态(电平,level) 信息 • Transition fault和Path delay fault,与stuck-at故障相比,带有 transition及timing信息的状态(level)信息 • IDDQ是电流测试,不是状态(level)测试,所以,能和基于Stuck-at 及Transition等状态型的测试形成很好的互补 • IDDQ不是基于芯片的逻辑功能(functional)和电路结构(但与逻辑门的各级电路结构有关),而是检查电路各节点的电流在静态条件下是否正常,是基于电流型defect,容易检测电流型故障

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