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芯片IDDQ测试的详细资料说明

消耗积分:2 | 格式:pdf | 大小:2.50 MB | 2020-11-30

shenchu123

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本文档的主要内容详细介绍的是芯片IDDQ测试的详细资料说明包括了：•为什么需要IDDQ的测试？ •IDDQ测试原理 •IDDQ测试应用与结构

       • Stuck-at故障，是基于状态的structural测试，关注状态（电平，level） 信息 • Transition fault和Path delay fault，与stuck-at故障相比，带有 transition及timing信息的状态（level）信息 • IDDQ是电流测试，不是状态（level）测试，所以，能和基于Stuck-at 及Transition等状态型的测试形成很好的互补 • IDDQ不是基于芯片的逻辑功能（functional）和电路结构（但与逻辑门的各级电路结构有关），而是检查电路各节点的电流在静态条件下是否正常，是基于电流型defect，容易检测电流型故障

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