资料下载
×
集成电路的电浪涌损伤
消耗积分:0 |
格式:doc |
大小:48 KB |
2011-05-20
分享资料个
半导体器件在使用过程中最常见的失效模式之一就是电浪涌引起的电过应力(EOS)损伤或烧毁电浪涌(即电瞬变)指的是一种随机的短时间的电压或电流冲击，它是在机器装调和使用过程中常出现的问题。电浪涌虽然平均功率很小，但瞬时功率却非常之大，因此，对半导体器件的破坏性很大，轻则引起逻辑电路出现错误或引起PN结内部的局部损伤，重则使PN结严重损坏，甚至铝金属也烧融飞溅。
声明：本文内容及配图由入驻作者撰写或者入驻合作网站授权转载。文章观点仅代表作者本人，不代表电子发烧友网立场。文章及其配图仅供工程师学习之用，如有内容侵权或者其他违规问题，请联系本站处理。 举报投诉
评论(0)
发评论
- 相关下载
- 相关文章
