!超深亚微米工艺下!线间串扰是导致电路故障的主要原因之一"尽管可能导致故障的线间串扰的数量巨大!但真正会引起故障的线间串扰却相对较少"因此!如果能在对电路验证或测试前进行静态定时分析!找出那些导致电路故障的线间串扰!则可以有效提高测试生成效率!并降低测试成本"基于此目的!文章在静态定时分析中引入对线间串扰现象的分析!在线时延模型的基础上使用重叠跳变对故障模型!只需要求出与最长通路的重叠跳变对即可"在对,-!C-L)M基准电路的实验中!各电路需要测试的串扰数平均减少至&.N以下"相对于已发表的实验结果!本文的实验结果具有较高的!+3效率"
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