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详述解决LTE手机射频信道衰落测试方案
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2014-12-04
张瑾
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随着全球蜂窝通信网络运营商逐步采用 LTE，满足所有 LTE 要求的需求也在增长， 其中包括衰落特性。第三代合作伙伴计划(3GPP) 在其 TS 36.521-1 标准中规定了衰 落的技术规格，用以测量 LTE 手机的衰落特性。传统衰落特性测试方法采用外部衰落模拟器和噪声源， 通过常规射频测试设备修改信号。这种设备显著增加了整个测试系统的成本，并且需要额外的软件控制并协调各个仪器。本文将介绍一种创新的全数字衰落模拟方法，这种方法可极大减少增加贵重设备所产生的成本，同时提高测量精度并缩短测试时间。
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