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ARM_JTAG调试原理

消耗积分:1 | 格式:pdf | 大小:570KB | 2015-06-22

lnj1018

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这篇文章主要介绍 ARM JTAG 调试的基本原理。基本的内容包括了 TAP (TEST ACCESS PORT) 和 BOUNDARY-SCAN ARCHITECTURE 的介绍，在此基础上，结合 ARM7TDMI 详细 介绍了的 JTAG 调试原理。 这篇文章主要是总结了前段时间的一些心得体会，希望对想了解 ARM JTAG 调试的网友们 有所帮助。我个人对 ARM JTAG 的理解还不是很透彻，在文章中，难免会有偏失和不准确的地 方，希望精通 JTAG 调试原理的大侠们不要拍砖，有什么问题提出来，我一定尽力纠正。同时也欢迎对 ARM JTAG 调试感兴趣的朋友们一起交流学习。
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