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数字集成电路参数测试仪的设计

消耗积分:1 | 格式:pdf | 大小:128KB | 2016-03-23

陈潇

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以AT89C51单片机为核心设计了一种简易数字集成电路参数的测试仪器。测试仪采用多值参数比较法，利用单片机的数学运算和控制功能，对数字IC进行功能测试，同时完成各项直流参数测试。并通过8279键盘控制来实现测量中的量程自动切换及各路测试 项目的参数显示。
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