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杂散光的介绍及LensCheck镜头测量系统上的杂散光测量
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远离吸收光的其它波长的入射光。由于光源发出的光经过单色器时有可能从单色器舱内及其它光学元件表面发生反射，从光学元件表面以及大气中的灰尘也可以发生散射，这些都会产生杂散光。杂散光的存在会对比尔定律产生偏移。另：一般指超出眼睛网膜视线之光线。
杂散光的来源编辑产生杂散光的原因很多，其最主要的原因大致有以下9个方面：1. 灰尘沾污光学元件（如光栅、棱镜、透镜、反射镜、滤光片等）；2. 光学元件被损伤，或光学元件产生的其他缺陷（如光栅、透镜和反射镜、棱镜材料中的气泡等）；3.准直系统内部或有关隔板边缘的反射；4.光学系统或检测器没有作适当的屏蔽，“室光”直接进入光学系统；5.热辐射或荧光引起的二次发射；6.狭缝的缺陷；7.光束孔径不匹配；8.光学系统的相差；9.单色器内壁黑化处理不当。以上9个方面中，光栅是杂散光的主要来源。它产生的杂散光占总杂散光约80%。［1］
杂散光的重要性编辑杂散光是紫外可见分光光度计非常重要的关键技术指标。它是紫外可见分光光度计分析误差的主要来源，它直接限制被分析测试样品浓度的上限。当一台紫外可见分光光度计的杂散光一定时，被分析的试样浓度越大，其分析误差就越大。ASTM认为：“杂散光可能是光谱测量中主要误差的来源。尤其对高浓度的分析测试时，杂散光更加重要”。有文献报道，在紫外可见光区的吸收光谱分析中，若仪器有1%的杂散光，则对A为2.0的样品测试时，会引起2%的分析误差。因此，认真研究杂散光，以便减少或降低杂散光对光谱分析的影响，是光谱仪器研制者和使用者们必须高度重视的问题。
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